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  1. 全部
  2. 现行
  3. 即将实施
  4. 被代替
  5. 废止
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• 发布年份 
  1. 全部
  2. 2024
  3. 2023
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  5. 2021
  6. 2020
  7. 2019及以前

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• 现行
  SJ/T 11501-2015 碳化硅单晶晶型的测试方法
  译：SJ/T 11501-2015
  【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H83化合物半导体材料
  发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-04-30 | 实施时间： 2015-10-01
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• 现行
  SJ/T 11466-2014 红外遥控接收放大器
  译：SJ/T 11466-2014 infrared remote control receiver amplifier
  【国际标准分类号(ICS)】 ：31.260光电子学、激光设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：L52红外器件
  发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2014-05-06 | 实施时间： 2014-07-01
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• 现行
  SJ/T 11505-2015 蓝宝石单晶抛光片规范
  译：SJ/T 11505-2015 Ruby monocrystal polishing specification
  【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H83化合物半导体材料
  发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-04-30 | 实施时间： 2015-10-01
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• 现行
  SJ/T 11497-2015 砷化镓晶片热稳定性的试验方法
  译：SJ/T 11497-2015 The test method for thermal stability of gallium arsenide wafers
  【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H83化合物半导体材料
  发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-04-30 | 实施时间： 2015-10-01
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  SJ/T 11530-2015 信息技术 开关型电源适配器通用规范
  译：SJ/T 11530-2015
  【国际标准分类号(ICS)】 ：35.240.40信息技术在银行中的应用 【中国标准分类号(CCS)】 ：L63计算机外围设备
  发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-04-30 | 实施时间： 2015-10-01
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• 现行
  SJ/T 11509-2015 液晶显示器用 ITO腐蚀液
  译：SJ/T 11509-2015 Liquid crystal display (LCD) etchant for indium tin oxide (ITO) use
  【国际标准分类号(ICS)】 ：31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件
  发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-04-30 | 实施时间： 2015-10-01
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• 现行
  SJ/T 11489-2015 低位错密度磷化铟抛光片蚀坑密度的测量方法
  译：SJ/T 11489-2015 The measurement method for the low-dislocation density indium phosphide polished surface pit density
  【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H83化合物半导体材料
  发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-04-30 | 实施时间： 2015-10-01
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• 现行
  SJ/T 2215-2015 半导体光电耦合器测试方法
  译：SJ/T 2215-2015 Semiconductor photoelectric coupler testing method
  【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080.10二极管 【中国标准分类号(CCS)】 ：L50/54光电子器件
  发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-04-30 | 实施时间： 2015-10-01
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• 现行
  SJ/T 11490-2015 低位错密度砷化镓抛光片蚀坑密度的测量方法
  译：SJ/T 11490-2015 The measurement method for the pit density of polished gallium arsenide wafers with low dislocation density
  【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H83化合物半导体材料
  发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-04-30 | 实施时间： 2015-10-01
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  SJ/T 11516-2015 薄膜晶体管（TFT）用掩模版规范
  译：SJ/T 11516-2015 The specification for the mask used in thin film transistor (TFT) manufacturing
  【国际标准分类号(ICS)】 ：31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件
  发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-04-30 | 实施时间： 2015-10-01
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