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  GB/T 1554-1995 硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法
  译：GB/T 1554-1995 Test method for crystallographic perfection of silicon by preferential etch techniques
  【国际标准分类号(ICS)】 ：01综合、术语学、标准化、文献 【中国标准分类号(CCS)】 ：H26金属无损检验方法
  发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1995-04-18 | 实施时间： 1995-12-01
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  GB/T 5230-1995 电解铜箔
  译：GB/T 5230-1995 Electrodeposited copper foil
  【国际标准分类号(ICS)】 ：77.120.30铜和铜合金 【中国标准分类号(CCS)】 ：H62重金属及其合金
  发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1995-04-18 | 实施时间： 1995-12-01
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  GB/T 4436-1995 铝及铝合金管材外形尺寸及允许偏差
  译：GB/T 4436-1995 Wrought aluminium and aluminium alloy tubes—Dimensions and deviations
  【国际标准分类号(ICS)】 ：23.040.15有色金属管 【中国标准分类号(CCS)】 ：H61轻金属及其合金
  发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1995-04-18 | 实施时间： 1995-12-01
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  GB/T 1480-1995 金属粉末粒度组成的测定 干筛分法
  译：GB/T 1480-1995 Determination of particle size for metallic powders—Dry sieving
  【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040.30金属材料化学分析 【中国标准分类号(CCS)】 ：H21金属物理性能试验方法
  发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1995-04-18 | 实施时间： 1995-12-01
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  GB/T 469-1995 铅锭
  译：GB/T 469-1995 Lead ingots
  【国际标准分类号(ICS)】 ：77.120.60铅、锌、锡及其合金 【中国标准分类号(CCS)】 ：H62重金属及其合金
  发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1995-04-18 | 实施时间： 1995-12-01
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  GB/T 6396-1995 复合钢板力学及工艺性能试验方法
  译：GB/T 6396-1995 Clad plates—Machanical and technological test
  【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040金属材料试验 【中国标准分类号(CCS)】 ：H22金属力学性能试验方法
  发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1995-04-11 | 实施时间： 1995-12-01
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  GB/T 1817-1995 硬质合金常温冲击韧性试验方法
  译：GB/T 1817-1995 Test method of impact toughness of cemented carbides at room temperature
  【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040.10金属材料机械试验 【中国标准分类号(CCS)】 ：H22金属力学性能试验方法
  发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1995-04-18 | 实施时间： 1995-12-01
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  GB/T 351-1995 金属材料电阻系数测量方法
  译：GB/T 351-1995 Metallic materials—Resistivity measurement method
  【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040金属材料试验 【中国标准分类号(CCS)】 ：H21金属物理性能试验方法
  发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1995-04-11 | 实施时间： 1995-12-01
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  GB/T 1551-1995 硅、锗单晶电阻率测定 直流两探针法
  译：GB/T 1551-1995 Test method for resistivity of silicon and germanium bars using a two-point probe
  【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040.30金属材料化学分析 【中国标准分类号(CCS)】 ：H21金属物理性能试验方法
  发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1995-04-18 | 实施时间： 1995-12-01
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  GB/T 4058-1995 硅抛光片氧化诱生缺陷的检验方法
  译：GB/T 4058-1995 Test method for detection of oxidation induced defects in polished silicon wafers
  【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040.30金属材料化学分析 【中国标准分类号(CCS)】 ：H26金属无损检验方法
  发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1995-04-18 | 实施时间： 1995-12-01
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