无数据~
暂无内容
请重新选择[分类]、[状态]、[年份]
为您推荐您可能感兴趣的内容:
  • SJ/T 11542-2015 立体投影机技术要求及测试方法 现行
    译:SJ/T 11542-2015
    【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :M74广播、电视发送与接收设备
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2015-10-10 | 实施时间: 2016-04-01
  • SJ/T 11030-2015 电子器件用金铜及金镍纤料中杂质 铅、锌、磷的ICP-AES测定方法 现行
    译:SJ/T 11030-2015 The method of ICP-AES determination of impurities in gold-copper and gold-nickel wires used in electronic devices, including lead, zinc, and phosphorus
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 :L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2015-10-10 | 实施时间: 2016-04-01
  • SJ/T 11565.1-2015 信息技术服务 咨询设计 第1部分:通用要求 现行
    译:SJ/T 11565.1-2015 Information technology services consulting design Part 1: General requirements
    【国际标准分类号(ICS)】 :35.080软件开发和系统文件 【中国标准分类号(CCS)】 :L77软件工程
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2015-10-10 | 实施时间: 2016-04-01
  • SJ/T 11563-2015 网络化可信软件生产过程与环境 现行
    译:SJ/T 11563-2015 Networked Trustworthy Software Production Process and Environment
    【国际标准分类号(ICS)】 :35.080软件开发和系统文件 【中国标准分类号(CCS)】 :L77软件工程
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2015-10-10 | 实施时间: 2016-04-01
  • SJ/T 2658.5-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第5部分:串联电阻 现行
    译:SJ/T 2658.5-2015
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 :L53半导体发光器件
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2015-10-10 | 实施时间: 2016-04-01
  • SJ/T 11550-2015 晶体硅光伏组件用浸锡焊带 现行
    译:SJ/T 11550-2015 Soldering wire for crystalline silicon photovoltaic module
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 :L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2015-10-10 | 实施时间: 2016-04-01
  • SJ/T 11011-2015 电子器件用纯银纤料中杂质含量铅、铋、锌、镉、铁、镁、铝、锡、锑、磷的ICP-AES测定方法 现行
    译:SJ/T 11011-2015 Determination of impurity content in pure silver woven material used for electronic devices, including lead, bismuth, zinc, cadmium, iron, magnesium, aluminum, tin, antimony, and phosphorus using ICP-AES method
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 :L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2015-10-10 | 实施时间: 2016-04-01
  • SJ/T 2658.2-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第2部分:正向电压 现行
    译:SJ/T 2658.2-2015 Semiconductor Infrared Emitting Diode Measurement Methods Part 2: Forward Voltage。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 :L53半导体发光器件
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2015-10-10 | 实施时间: 2016-04-01
  • SJ/T 11546-2015 拼接显示墙技术要求及方法 现行
    译:SJ/T 11546-2015
    【国际标准分类号(ICS)】 :33.160.99其他音频、视频和视听设备 【中国标准分类号(CCS)】 :M70/79广播、电视设备
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2015-10-10 | 实施时间: 2016-04-01
  • SJ/T 11536.1-2015 高性能计算机 刀片服务器 第1部分:管理模块技术要求 现行
    译:SJ/T 11536.1-2015 High-performance computer, blade server, Part 1: Management module technical requirements
    【国际标准分类号(ICS)】 :35.160微处理机系统 【中国标准分类号(CCS)】 :L62计算机设备
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2015-10-10 | 实施时间: 2016-04-01