国际标准分类(ICS)
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现行
译：GB/T 30655-2014 Test methods for internal quantum efficiency of nitride LED epitaxial layers适用范围：本标准规定了ⅢⅤ族氮化物LED外延片内量子效率的测试方法。 本标准适用于基于ⅢⅤ族氮化物的量子阱LED内量子效率的测试。【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040.99金属材料的其他试验方法 【中国标准分类号(CCS)】 ：H21金属物理性能试验方法发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2014-12-31 | 实施时间： 2015-09-01收藏 -
现行
译：GB/T 30661.2-2014 Wheelchair seating—Part 2: Determination of physical and mechanical characteristics of devices intended to manage tissue integrity—Seat cushions适用范围：GB/T 30661的本部分规定了用于维持组织完整性和预防组织创伤的轮椅车座垫的测试设备、测试方法及信息发布的要求。它不包括座垫阻燃性的要求和测试方法。附录B提供了关于选择阻燃性座垫的建议。本部分没有规范座垫接触面压力分布的特性以及座垫的散热和水蒸气散耗特性, 在GB/T 30661将来部分将进一步规范。 本部分适用于用作其他支撑系统的维持组织完整性的装置，同时也适用于轮椅车以外的座垫。【国际标准分类号(ICS)】 ：11.180残障人员用设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：Y14自行车发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2014-12-31 | 实施时间： 2015-07-01收藏
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现行
译：GB/T 30658-2014 Prostheses and orthoses—Factors to be considered when specifying a prosthesis for a person who has had a lower limb amputation适用范围：本标准规定了为下肢截肢者开具假肢处方考虑的因素。【国际标准分类号(ICS)】 ：11.040.40外科植入物、假体和矫形 【中国标准分类号(CCS)】 ：C35矫形外科、骨科器械发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2014-12-31 | 实施时间： 2015-07-01收藏
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现行
译：GB/T 30653-2014 Test method for crystal quality of Ⅲ-nitride epitaxial layers适用范围：本标准规定了利用高分辨X射线衍射仪测试Ⅲ族氮化物外延片结晶质量的方法。 本标准适用于在氧化物衬底（Al2O3、ZnO等）或半导体衬底（GaN、Si、GaAs、SiC等）上外延生长的氮化物(Ga、In、Al)N单层或多层异质外延片结晶质量的测试。其他异质外延片结晶质量的测试也可参考本标准。【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040.20金属材料无损检测 【中国标准分类号(CCS)】 ：H21金属物理性能试验方法发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2014-12-31 | 实施时间： 2015-09-01收藏
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被代替
译：GB/T 30652-2014 Trichlorosilane for silicon epitaxial适用范围：本标准规定了硅外延用三氯氢硅(SiHCl3)的要求、试验方法、检验规则和标志、包装、运输、贮存、质量证明书以及订货单 (或合同)内容。 本标准适用于以粗三氯氢硅为原料经过提纯而制得的硅外延用三氯氢硅（以下简称产品）。【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H83化合物半导体材料发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2014-12-31 | 实施时间： 2015-09-01收藏
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现行
译：GB/T 30660.1-2014 Prosthetics and orthotics—Vocabulary—Part 1:Normal gait适用范围：GB/T 30660的本部分规定了描述正常步态的术语。【国际标准分类号(ICS)】 ：11.040.40外科植入物、假体和矫形 【中国标准分类号(CCS)】 ：C35矫形外科、骨科器械发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2014-12-31 | 实施时间： 2015-07-01收藏
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现行
译：GB/T 30657-2014 Prostheses and orthoses—Factors to be included when describing physical activity of a person who has had a lower limb amputation(s) or who has a deficiency of a lower limb segment(s) present at birth适用范围：本标准规定了描述下肢截肢或先天性下肢缺失患者活动量考虑的因素。【国际标准分类号(ICS)】 ：11.040.40外科植入物、假体和矫形 【中国标准分类号(CCS)】 ：C35矫形外科、骨科器械发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2014-12-31 | 实施时间： 2015-07-01收藏
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被代替
译：GB/T 30662-2014 Specification for recruitment meeting service适用范围：本标准规定了举办现场招聘会的服务机构资质、工作人员的配备、场地及设施、服务流程及基本要求、服务要求、服务评价与改进。本标准适用于人力资源服务机构（以下简称服务机构）开展的现场招聘会服务。【国际标准分类号(ICS)】 ：03.080.99其他服务 【中国标准分类号(CCS)】 ：A20/39基础标准发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2014-12-31 | 实施时间： 2015-07-01收藏
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现行
译：GB/T 30654-2014 Test method for lattice constant of Ⅲ-nitride epitaxial layers适用范围：本标准规定了利用高分辨X射线衍射测试Ⅲ族氮化物外延片晶格常数的方法。 本标准适用于在氧化物衬底（Al2O3、ZnO等）或半导体衬底（GaN、Si、GaAs、SiC等）上外延生长的氮化物(Ga, In, Al)N单层或多层异质外延片晶格常数的测量。其他异质外延片晶格常数的测量也可参考本标准。【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040.20金属材料无损检测 【中国标准分类号(CCS)】 ：H21金属物理性能试验方法发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2014-12-31 | 实施时间： 2015-09-01收藏
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被代替
译：GB/T 30656-2014 Polished monocrystalline silicon carbide wafers适用范围：本标准规定了4H及6H碳化硅单晶抛光片的要求、检验方法、检验规则、标志、包装、运输、储存、质量证明书及订货单（或合同）内容。 本标准适用于4H及6H碳化硅单晶研磨片经单面或双面抛光后制备的碳化硅单晶抛光片。产品主要用于制作半导体照明及电力电子器件的外延衬底。【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H83化合物半导体材料发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2014-12-31 | 实施时间： 2015-09-01收藏
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