适用范围：本文件规定了各类防伪技术和防伪技术产品的防伪力度、身份唯一性、防转移性能、识别性能、稳定性、使用适应性、使用环境要求、技术安全保密性等通用技术要求，描述了相应的试验、核查和评定方法，给出了防伪技术及防伪技术产品的分类，确立了验收规则。 本文件适用于各类防伪技术和防伪技术产品的研发、设计、生产、检验、评价和验收。 本文件也适用于指导各类防伪技术和防伪技术产品标准的编写。

适用范围：本文件描述了含有光催化抗菌剂的有釉和无釉陶瓷砖表面抗菌活性的试验方法。 本文件不包括光催化抗菌处理对陶瓷砖表面的副影响，如耐化学腐蚀性、耐污染性和小色差的变化，耐化学腐蚀性见ISO 10545-13 ，耐污染性见ISO 10545-14，小色差见ISO 10545-16。 本文件不包括光催化陶瓷的其他性能，如水污染物分解、自清洁、防雾和空气净化。本文件也不包括评价在一定时间内表面消毒剂或有残留活性的试剂处理过的陶瓷表面。 通过本文件获得的测试结果仅适用于本文件及其规定的试验条件。试验结果表明在特定试验条件下的抗菌活性，不能反映在温度、湿度、不同细菌种类、营养条件等多种因素情况下的活性。

适用范围：本文件规定了采用爆炸复合法、爆炸轧制法和轧制复合法生产的不锈钢复合钢板和钢带［以下简称复合钢板(带)］的分类和代号、制造工艺、订货内容、技术要求、试验方法、检验规则、包装、标志及质量证明书等。 本文件适用于以不锈钢做覆材、碳素钢、低合金钢或合金钢做基材的复合钢板(带)，用于制造各类压力容器、储罐、结构件等单面、双面复合钢板(带)。

适用范围：本文件描述了一种在实际系统中将具有相对运动的颗粒转换为二值化图像的方法，其中图像中的颗粒被分离成独立个体。运动颗粒的图像由光学图像采集设备创建。颗粒运动对图像的影响可以通过仪器最小化或通过软件程序进行校正。本文件适用于与背景有明显区别的运动颗粒图像。后续分析中，这些二值图像可视为静态图像，其表征方法见GB/T 21649.1—2024。与静态图像分析系统相比，动态图像分析系统能够测量更多的颗粒。本文件为使用颗粒标准样品进行粒度分布测量仪器鉴定提供指导。本文件详细讨论了颗粒的相对运动、颗粒运动对图像的影响（运动模糊）、颗粒沿光轴上的移动与位置（景深）以及颗粒与相机的相对运动方向。

适用范围：本文件描述了评估有釉和无釉陶瓷砖表面抗菌剂的抗菌活性试验方法。 本文件未涵盖由于抗菌处理而对瓷砖表面产生的二次影响，例如耐化学腐蚀性、耐污染性或小色差变化。耐化学腐蚀性见ISO 10545-13，耐污染性见ISO 10545-14，小色差见ISO 10545-16。 通过本文件获得的测试结果仅适用于本文件及其规定的试验条件。试验结果表明在特定试验条件下的抗菌活性，不能反映在温度、湿度、不同细菌种类、营养条件等多种因素情况下的活性。

适用范围：本文件规定了一种用于测量悬浮在液体中颗粒的粒度和数量浓度的光阻法液体颗粒计数器（LELPC）的测量、校准和验证方法。本文件所描述的光阻法液体颗粒计数器是基于对单颗粒的测量，由该方法测量的典型粒径范围为1 μm～100 μm。 本方法适用于评价药品（如：注射剂、注射用水、静脉注射液）清洁度，也适用于测量各种液体中颗粒数量浓度和粒度分布。 本文件包含以下内容： ——粒径设置误差； ——计数效率； ——粒径分辨力； ——最大颗粒数量浓度； ——取样流量误差； ——取样时间误差； ——取样体积误差； ——校准间隔； ——测试和校准报告。

适用范围：本文件规定了一套代码系统，用于识别任一小艇的以下内容： ——制造商所属国标识代码； ——制造商标识代码； ——序列号； ——制造月份和年份； ——型号年份。 本文件适用于艇体长度LH不大于24 m的所有类型和材料的小艇。

适用范围：本文件描述了以20°、60°或85° 3种几何条件测量涂层光泽的方法。 本文件适用于平整、不透明底材上无纹理涂层的光泽测量。 注：当测量的样品与上述提及的样品不同时，可以比较其光泽的高低。但是，不能保证得到的光泽值与目视光泽感受一致(见附录A)。

适用范围：本文件规定了一种用于测量悬浮在液体中颗粒的粒度和数量浓度的光散射法液体颗粒计数器（LSLPC）的测量、校准和验证方法。本文件描述的光散射法是基于对单颗粒散射测量。由该方法测量的典型粒径范围在 0.1 μm～ 10 μm之间。 本方法适用于评价纯水和化学试剂的清洁度，以及测量各种液体中的颗粒数量浓度与粒度分布。利用本方法测量颗粒粒径取决于颗粒与液体介质的折射率，因此得到的粒径为校准颗粒在纯水中的等效粒径。 本文件包含以下内容： ——粒径设置误差； ——计数效率； ——粒径分辨力； ——假计数率； ——最大颗粒数量浓度； ——取样流量误差； ——取样时间误差； ——取样体积误差； ——校准间隔； ——测试和校准报告。

适用范围：本文件描述了在单离子计数飞行时间二次离子质谱仪中，通过测量基于聚四氟乙烯（PTFE）质谱中的同位素比值，从而确定强度标线性偏差可接受限的最大计数率的方法。本文件还包括校正强度非线性的方法，强度的非线性是由在死时间内到达微通道板（MCP）或闪烁体和光电倍增器随后进入时间数字转换器（TDC）的二次离子强度损失引起的。该校正可将95％线性的强度范围增加到50倍以上，因此对于那些已证实相关校正公式有效的质谱仪，可以采用更高的最大计数率。