无数据~
暂无内容
请重新选择[分类]、[状态]、[年份]
为您推荐您可能感兴趣的内容:
  • GB/T 42973-2023 半导体集成电路 数字模拟(DA)转换器 现行
    译:GB/T 42973-2023 Semiconductor integrated circuits—Digital-analog(DA) converter
    适用范围:本文件规定了数字模拟(DA)转换器(以下简称DA转换器或DAC)的分类、技术要求、测试方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。本文件适用于采用半导体集成电路工艺设计制造的DA转换器。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2023-09-07 | 实施时间: 2024-01-01
  • GB/T 42974-2023 半导体集成电路 快闪存储器(FLASH) 现行
    译:GB/T 42974-2023 Semiconductor integrated circuits—Flash memory(FLASH)
    适用范围:本文件规定了快闪存储器(FLASH)的分类、技术要求、电测试方法和检验规则。 本文件适用于FLASH的设计、制造、采购、验收。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2023-09-07 | 实施时间: 2024-01-01
  • GB/T 42976-2023 纳米技术 纳米光电显示 量子点光转换膜光学性能测试方法 现行
    译:GB/T 42976-2023 Nanotechnology—Nano-enabled optoelectrical display—Measurement of optical performance for quantum dot enabled light conversion film
    适用范围:本文件描述了量子点光转换膜光学性能的测试方法,包括方法原理、仪器和设备、测试样品、测试程序、数据处理、测试报告等。 本文件适用于液晶显示器件用量子点光转换膜光学性能的测量,其他类型光转换膜光学性能的测量参照执行。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.120电子显示器件 【中国标准分类号(CCS)】 :G31合成树脂、塑料基础标准与通用方法
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2023-09-07 | 实施时间: 2024-04-01
  • GB/T 42978-2023 数码照相机 渐晕的测量 现行
    译:GB/T 42978-2023 Digital cameras—Shading measurements
    适用范围:本文件描述了数码照相机渐晕测量的一种方法,测试方法包括彩色和亮度信号分量独立测量的程序。本文件适用于数码照相机和照相手机的渐晕测量。
    【国际标准分类号(ICS)】 :37.040.10摄影设备、投影仪 【中国标准分类号(CCS)】 :N46照相机与照相器具
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2023-09-07 | 实施时间: 2024-04-01
  • GB/T 42972-2023 微波电路 检波器测试方法 现行
    译:GB/T 42972-2023 Microwave circuits—Test methods for detector
    适用范围:本文件描述了微波电路中检波器(以下简称“检波器”)的电参数测试方法。本文件适用于单管、单片及混合集成等微波电路中检波器的电参数测试,包括检波二极管、均方根检波器、对数放大检波器、包络/峰值检波器等。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L55/59微电路
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2023-09-07 | 实施时间: 2024-01-01
  • GB/T 42968.8-2023 集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分:辐射抗扰度测量 IC带状线法 现行
    译:GB/T 42968.8-2023 Integrated circuits—Measurement of electromagnetic immunity—Part 8:Measurement of radiated immunity—IC stripline method
    适用范围:本文件描述了集成电路(IC)对150 kHz~3 GHz频率范围内的射频(RF)辐射电磁骚扰的抗扰度测量方法。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2023-09-07 | 实施时间: 2024-01-01
  • GB/T 42970-2023 半导体集成电路 视频编解码电路测试方法 现行
    译:GB/T 42970-2023 Semiconductor integrated circuits—Measuring methods of video encoder and decoder circuits
    适用范围:本文件描述了半导体集成电路视频编解码(video encoder and decoder)电路中的模拟视频接口类电路(以下简称“器件”)电特性测试方法。 本文件适用于视频编解码电路中的模拟视频接口类电路的测试。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2023-09-07 | 实施时间: 2024-01-01
  • GB/T 42977-2023 纳米技术 纳米光电显示 量子点光转换膜的光学可靠性测定 现行
    译:GB/T 42977-2023 Nanotechnology—Nano-enabled optoelectrical display—Optical reliability assessment for quantum dot enabled light conversion film
    适用范围:本文件给出了量子点光转换膜(Q-LCF)的光学可靠性测定方法和可靠性判定指标。 本文件适用于液晶显示器件用量子点光转换膜的光学可靠性测定,其他具有光转换作用的膜材参照执行。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.120电子显示器件 【中国标准分类号(CCS)】 :G31合成树脂、塑料基础标准与通用方法
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2023-09-07 | 实施时间: 2024-04-01
  • GB/T 42975-2023 半导体集成电路 驱动器测试方法 现行
    译:GB/T 42975-2023 Semiconductor integrated circuits—Test method of driver device
    适用范围:本文件规定了半导体集成电路驱动器(以下简称器件)的电特性测试方法的基本原理和测试程序。本文件适用于74/54系列驱动器、总线驱动器、PIN开关驱动器、达林顿驱动器、时钟驱动器、LVDS驱动器、MOSFET驱动器和差分驱动器等各种半导体工艺制造的驱动器的电性能测试。其他类别驱动器的测试参考使用。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2023-09-07 | 实施时间: 2024-01-01
  • GB/T 42969-2023 元器件位移损伤试验方法 现行
    译:GB/T 42969-2023 Displacement damage test method for components
    适用范围:本文件描述了元器件位移损伤的试验方法。本文件适用于光电集成电路和分立器件,如电荷耦合器件(CCD)、光电耦合器、图像敏感器(APS)、光敏管等,用质子、中子进行位移损伤辐照试验。其他元器件的位移损伤辐照试验参照进行。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2023-09-07 | 实施时间: 2024-01-01