适用范围：本标准规定了电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的XRD测试方法。 本标准适用于电子封装用球形二氧化硅微粉中检测α态晶体二氧化硅含量，其他无定形二氧化硅含量的检测也可参照本标准执行。α态晶体二氧化硅含量测试范围0.5%以下半定量分析，0.5%~5%定量分析。

适用范围：本标准规定了普通单体液晶的产品分类、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。 本标准适用于普通TN、HTN、STN、VA、3D等混合液晶材料所需的单体液晶材料。

适用范围：本标准规定了三甲基铝的技术要求、试验方法、检验规则、包装、标志、运输、储存和安全。 本标准适用于烷基交换法、钠还原法三种化学合成法制备并经精制纯化的三甲基铝。该产品主要用于生长化合物半导体薄膜材料等。 分子式：C3H9Al 相对分子质量：72.09(按2013年国际相对原子质量计算)

适用范围：本标准给出了规范中规定要求的可信性特性，以及这些特性验证和确认的方法和判定准则的指南。 本标准包括如下内容： ——有关规定可靠性、维修性、可用性和维修保障的定量和定性要求的建议； ——系统采购方有关如何确保供应方满足规定要求的建议； ——帮助供应方满足采购方要求的建议。 其他文件，如法律和政府条例也可作为系统要求，除与源于本标准相一致的任何规范外，这些文件宜考虑采用。

适用范围：本标准规定了制备氮化物半导体材料用氢化物气相外延设备(以下简称“HVPE设备”）的产品分类和标记、工作条件、要求、检测方法、检验规则、标志、包装、运输和储存。 本标准适用于制备直径50.8 mm~152.4 mm氮化物半导体材料的HVPE设备。

适用范围：本标准规定了工作在76 GHz频段的车辆无线电设备的等效全向辐射功率、发射机杂散发射、接收机杂散发射和带外发射等射频指标技术要求和测试方法。 本标准适用于工作在 76 GHz~77 GHz 频率范围内的车辆无线电设备。

适用范围：本标准规定了三乙基镓的技术要求、试验方法、检验规则、包装、标志、运输、储存和安全。 本标准适用于镓镁合金法、三氯化镓法、格式试剂法三种化学合成法制备并经精制纯化的三乙基镓。该产品主要用于生长化合物半导体薄膜材料等。 分子式：C6H15Ga 相对分子质量：156.91(按2013年国际相对原子质量计算)

适用范围：本标准规定了TFT单体液晶材料的产品分类、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。 本标准适用于TFT混合液晶材料所需的单体液晶材料。

适用范围：本标准规定了光纤着色油墨的要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。 本标准适用于紫外光(UV)固化的光纤着色油墨(以下简称着色油墨)。

适用范围：本标准规定了托忒文名义字符和变形显现字符的最小集合，包括托忒文的每个名义字符的变形显现形式的图形以及控制字符的使用规则。本标准适用于托忒文信息处理。