适用范围：本规范适用于使用中和修理后的输入信号为热电偶、热电阻、0 mA~20 mA DC、0 V~5 V DC，具有模拟数字转换器的热工数字显示仪的校准。

适用范围：本标准规定了钌粉的要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存及订货单（或合同）内容等。 本标准适用于钌矿石冶炼及各类贵金属杂料综合回收制取的金属钌粉。

适用范围：本标准规定了钼铝中间合金的要求、试验方法、检验规则和标志、包装、运输、贮存及订货单（或合同）内容。 本标准适用于铝热还原法生产的、钛合金添加用钼铝中间合金。

适用范围：本标准规定了锇粉的要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存及订货单（或合同）内容等。 本标准适用于锇矿石冶炼及各类贵金属杂料综合回收制取的金属锇粉。

适用范围：本标准规定了锰酸锂的术语、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存及订货单(或合同)内容。 本标准主要适用于锂离子电池用正极活性物质锰酸锂。

适用范围：本规范适用于包括正、负压力、差压和绝对压力变送器的现场校准。

适用范围：.1本标准适用于非本征单晶半导体材料样品或相同导电类型重掺衬底上沉积已知电阻率的同质外延层中的少数载流子扩散长度的测量。要求样品或外延层厚度大于4倍的扩散长度。 1.2本标准是为单晶硅样品的应用而开发的，可用于测量其他半导体，如砷化镓（同时调整相应的光照波长（能量）范围和样品的制备工艺）上的有效扩散长度和评价晶粒间界垂直于表面的多晶硅样品上有效扩散长度。本标准也可用于硅片的洁净区的宽度测定。 1.3本标准对样品的电阻率和寿命的应用极限尚未确定，但已经成功的对电阻率（0.1～50）Ω·cm、载流子寿命短至2 ns的p和n型硅样品进行了测量。本标准测量的扩散长度仅在室温22℃±0.5℃下进行，寿命和扩散长度是温度的函数。

适用范围：本标准规定了铝合金建筑型材用粉末涂料的要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输、贮存。 本标准适用于铝合金建筑型材静电喷涂用热固性粉末涂料(以下简称粉末)。

适用范围：本标准规定了半导体器件键合用铜丝的要求、试验方法、检验规范和标志、包装、运输、贮存及订货单(或合同)内容。 本标准适用于半导体器件键合用铜丝(以下简称铜丝)。

适用范围：本标准规定了铝及铝合金铸轧带材的术语、定义、要求、试验方法、检验规则和标志、包装、运输、贮存及合同(或订货单)内容。 本标准适用于铝及铝合金铸轧带材(以下简称铸轧带)。