适用范围：本文件规定了利用油润滑设备压缩的航空非呼吸用空气的压力和特性要求。 本文件不适用于呼吸或氧气系统用空气。

适用范围：本文件规定了一种用于测量悬浮在液体中颗粒的粒度和数量浓度的光阻法液体颗粒计数器（LELPC）的测量、校准和验证方法。本文件所描述的光阻法液体颗粒计数器是基于对单颗粒的测量，由该方法测量的典型粒径范围为1 μm～100 μm。 本方法适用于评价药品（如：注射剂、注射用水、静脉注射液）清洁度，也适用于测量各种液体中颗粒数量浓度和粒度分布。 本文件包含以下内容： ——粒径设置误差； ——计数效率； ——粒径分辨力； ——最大颗粒数量浓度； ——取样流量误差； ——取样时间误差； ——取样体积误差； ——校准间隔； ——测试和校准报告。

适用范围：本文件描述了在单离子计数飞行时间二次离子质谱仪中，通过测量基于聚四氟乙烯（PTFE）质谱中的同位素比值，从而确定强度标线性偏差可接受限的最大计数率的方法。本文件还包括校正强度非线性的方法，强度的非线性是由在死时间内到达微通道板（MCP）或闪烁体和光电倍增器随后进入时间数字转换器（TDC）的二次离子强度损失引起的。该校正可将95％线性的强度范围增加到50倍以上，因此对于那些已证实相关校正公式有效的质谱仪，可以采用更高的最大计数率。

适用范围：本文件描述了评估有釉和无釉陶瓷砖表面抗菌剂的抗菌活性试验方法。 本文件未涵盖由于抗菌处理而对瓷砖表面产生的二次影响，例如耐化学腐蚀性、耐污染性或小色差变化。耐化学腐蚀性见ISO 10545-13，耐污染性见ISO 10545-14，小色差见ISO 10545-16。 通过本文件获得的测试结果仅适用于本文件及其规定的试验条件。试验结果表明在特定试验条件下的抗菌活性，不能反映在温度、湿度、不同细菌种类、营养条件等多种因素情况下的活性。

适用范围：本文件描述了对材料薄膜进行协助表面分析的方法，这些薄膜不含有碳化合物作为预期成分，但在全扫描谱中观察到C 1s峰。这些薄膜可通过有氧或电化学氧化在金属和合金上生成，也可沉积在惰性基底上的。所述程序不适用于在基底上颗粒的不连续沉积。除此之外，还提供了一个可从含碳的表面污染物中识别C 1s信号的简单程序。当C 1s峰被确定为来自于外来的覆盖层时，从全谱中得出的成分可针对其影响进行校正。建议的程序以“如果-则”格式的简单规则结构形式所提供，目的是让它们所包含的信息可被数据系统中的自动化程序所利用。所提供的规则仅利用从XPS全扫描（谱）中检索的信息。

适用范围：本文件描述了用凯氏定氮法测定天然生胶和天然胶乳中氮含量的常量法和半微量法。 本文件适用于天然生胶和天然胶乳中氮含量的测定。 当采用半微量法有争议时，以其中的玻璃装置法为首选方法。 注：天然橡胶中的氮含量的测定常用于估算橡胶中的蛋白质含量。然而，天然橡胶中也存在少量非蛋白质的含氮组分，这些非蛋白质含氮组分在以天然胶乳制得的干固体的总氮含量中占有相当大的比例。

适用范围：本文件规定了一种用于测量悬浮在液体中颗粒的粒度和数量浓度的光散射法液体颗粒计数器（LSLPC）的测量、校准和验证方法。本文件描述的光散射法是基于对单颗粒散射测量。由该方法测量的典型粒径范围在 0.1 μm～ 10 μm之间。 本方法适用于评价纯水和化学试剂的清洁度，以及测量各种液体中的颗粒数量浓度与粒度分布。利用本方法测量颗粒粒径取决于颗粒与液体介质的折射率，因此得到的粒径为校准颗粒在纯水中的等效粒径。 本文件包含以下内容： ——粒径设置误差； ——计数效率； ——粒径分辨力； ——假计数率； ——最大颗粒数量浓度； ——取样流量误差； ——取样时间误差； ——取样体积误差； ——校准间隔； ——测试和校准报告。

适用范围：本文件规定了用于表征AFM探针形状，特别是柄和近尖端轮廓的两种方法。这两种方法分别通过将AFM探针尖轮廓投影到指定平面上，或者在确定的操作条件下将探针柄的特征投影到该平面上来实现。其中，后一种方法可以给出探针用于狭窄沟槽和类似轮廓结构的深度测量时的有效性。本文件适用于半径大于5u0的探针，其中u0是用于表征探针的参考样品脊形结构宽度的不确定度。

适用范围：本文件描述了含有光催化抗菌剂的有釉和无釉陶瓷砖表面抗菌活性的试验方法。 本文件不包括光催化抗菌处理对陶瓷砖表面的副影响，如耐化学腐蚀性、耐污染性和小色差的变化，耐化学腐蚀性见ISO 10545-13 ，耐污染性见ISO 10545-14，小色差见ISO 10545-16。 本文件不包括光催化陶瓷的其他性能，如水污染物分解、自清洁、防雾和空气净化。本文件也不包括评价在一定时间内表面消毒剂或有残留活性的试剂处理过的陶瓷表面。 通过本文件获得的测试结果仅适用于本文件及其规定的试验条件。试验结果表明在特定试验条件下的抗菌活性，不能反映在温度、湿度、不同细菌种类、营养条件等多种因素情况下的活性。

适用范围：本文件描述了以20°、60°或85° 3种几何条件测量涂层光泽的方法。 本文件适用于平整、不透明底材上无纹理涂层的光泽测量。 注：当测量的样品与上述提及的样品不同时，可以比较其光泽的高低。但是，不能保证得到的光泽值与目视光泽感受一致(见附录A)。