适用范围：本文件规定了政府网站网页电子文件归档和电子档案管理的管理流程和基本要求以及网页电子文件归档和档案管理的有关技术要求，并给出了对应的证实方法。本文件适用于各级政府网站（以下简称“网站”）网页电子文件归档和电子档案管理，其他网站网页的归档和管理参照使用。

适用范围：本文件规定了在芯片键合过程中使用多个叠层集成电路之间初始校准和校准保持的要求。定义了校准标记和操作步骤。本文件只适用于使用电耦合方法进行的芯片间校准。

适用范围：本文件规定了高压直流输电用电压源换流器交流侧阻抗设计要求，描述了高压直流输电用电压源换流器交流侧阻抗影响因素、延时测试条件及测试方法和阻抗测试条件及测试方法。 本文件适用于采用模块化多电平电压源换流器的高压直流输电系统。 注： 本文件主要考虑的阻抗频率范围为百赫兹至数千赫兹，用于电压源换流器与交流系统出现该频率范围内的电气振荡分析。柔性直流输电系统电气振荡的振荡频率范围、分析方法、电压源换流器交流侧阻抗理论建模、电压源换流器交流侧阻抗测试注意事项及振荡抑制方法见附录A。

适用范围：本文件描述了龙虾眼型聚焦光学元件的X射线焦距、十字臂垂直度、点扩散函数均匀性、角分辨率、有效面积、有效面积均匀性、半能宽等性能的测试方法。 本文件适用于空间天文、医疗成像、海关检测、物质分析等X射线聚焦成像领域使用的龙虾眼型聚焦光学元件的性能测试。其他用途的龙虾眼型聚焦光学元件参照使用。

适用范围：本文件规定了集成电路金属封装外壳的材料、镀覆、设计和结构、电特性、外观质量及环境适应性等方面的技术要求和检验方法。 本文件适用于集成电路金属封装外壳（以下简称“外壳”）的研制、生产、交付和使用。

适用范围：本文件界定了基于硅通孔(TSV)或凸点实现堆叠芯片的多芯片集成电路的术语和定义。 本文件适用于基于硅通孔(TSV)或凸点实现堆叠芯片的多芯片集成电路的制造和测试。

适用范围：本文件规定了高纯锗γ谱仪（以下简称“谱仪”)的分类、技术要求,描述了试验方法，同时对检验规则、标志、随行文件、运输及贮存进行了规定。 本文件适用于具有同轴型半导体探测器（以下简称“同轴型”)的高纯锗γ谱仪的生产、销售、管理和检测等。用于特殊或定制场景的其他类型高纯锗γ谱仪参考使用。

适用范围：本文件描述了消费者使用的耳机及个人音乐播放器产生的最大声压级的测量方法，包括使用耳机的设备或耳机，成套提供的且使用有线或无线等通用接口配接的耳机和个人音乐播放器的组合的测量方法。 本文件适用于消费者使用的耳机及可配接耳机的个人音乐播放器的设计、制造和检验。 本文件不适用于电源供电的高保真家用设备、监听耳机、医疗用途的耳机（听力困难等）或者作为主动听力保护装置的一部分使用的耳机和骨导耳机。 注：其他安全要求例如办公场所或者工业环境的噪声保护不受本文件的影响。

适用范围：本文件规定了一种用电子表格表示活动和活动中关系的方法，称之为“活动模型块”，简称为PAM（Parcellized Activity Model）。PAM特化用于表示通用表格本体数据模型，可视为IEC 62656-1中定义的本体模型块（POM）。本文件能描述的活动包括在一个企业、一个组织的整体或部分中，通过交换物理实体或非物理实体而形成的一系列服务、一组事件或一段过程。本文件还定义了一个方法，用于唯一地识别活动或以特定序列发生的事件。此外，本文件还标识了活动中交换的信息流、对象或材料，其中每个活动用一个类表示，每个流用一个关系表示。本文件支持将一组活动的特征、分类和标识作为规范化本体的一部分。这使得活动能注册成为元数据集，并上传到作为电工技术在线数据库的IEC公共数据字典中进行维护。本文件还提供了一种方法，用于将产品本体和包含服务的活动集成在单个模型中，用户能在服务的操作场景中对产品进行分析。这样一个综合性的视角有助于不同技术背景的人学习和分享一个企业的相关知识，因为通常这些知识需要同时了解企业的产品和服务。当用户需要在短时间内对外部状况做出反应，特别是在紧急情况或自然灾害发生时，这样的数据表示形式有助于用户分析一个企业及其资源的关键功能，并明确其定义、限制和内部的相互作用。本文件不涉及一个在信息系统软件设计或编程阶段中处理活动或事件必需的信息流详细算法描述、流程时序图或事件顺序。这些算法的详细规范和数据结构的构建将由软件工程领域的方法工具来实现，这些方法工具已有很多，例如UML（统一建模语言）、BPMN、SysML、DFD、IDEF以及其他CASE（计算机辅助软件工程）工具。本文件不涉及标准化或引入一个新的图形化描述活动或流程的方法。理想情况下，本文件建模的活动本体能够通过采用现有的图形化描述工具和流程描述语言来表达。这些工具和语言的图形化描述有

适用范围：本文件描述了多目拼接全景成像设备（以下简称全景成像设备）的光学性能的测试设备、测试条件和测试方法。 本文件适用于多目拼接全景成像设备光学性能的测试。