适用范围：GB/T 5095的本部分适用于互连组件，如电连接器、插座和电缆组件。 本部分规定了测量互连组件的激励线路与静噪线路之间电磁耦合量的试验规程。描述了用于单端和差分传输的时域法（方法A）和频域法（方法B）两种试验方法及其插入和标准装置法。

适用范围：GB/T 5095的本部分适用于电连接器、插座、电缆组件或互连系统。 本部分描述了用于测量作为频率函数的回波损耗的频域法和时域法。

适用范围：GB/T 5095的本部分规定了最高频率在1 GHz屏蔽的非圆形多芯电短路连接器，采用网络分析仪测量有效（表面）转移阻抗ZTE（用Ω表示）的试验方法，用以评定屏蔽效果。这种方法是以GB/T 17737.1-2013规定的线注入法为基础，采用特定类型的注入线以适应各种形状的连接器。在下文中所述的方法中，由于采用了特定的试验装置，因此检验的不是连接器自身的屏蔽，而是两个组合在一起的连接器（阳和阴），也就是试验结果包括了两个连接器、连接器之间的接口处以及电缆与连接器连接处的屏蔽效果。

适用范围：GB/T 5095的本部分适用于互连组件，如IEC TC 48范围内的电连接器和电缆组件。 本部分描述了在时域和频域内测量阻抗、反射系数和电压驻波比（VSWR）的试验方法。 注： 这些测试方法是为专业试验人员编写的，这些试验人员具备电子领域的专业知识并经过使用测试设备的培训。由于测量值受装置和设备的强烈影响，该方法未能叙述所有可能的复合作用。主要设备制造厂提供的应用说明书，对如何最恰当的使用其设备作了更深入的专业说明。至关重要的是相关标准中宜包括让试验人员了解如何安排和进行所要求测量的说明和简图。

适用范围：GB/T 5095的本部分适用于电连接器、插座、电缆组件或互连系统。 本部分描述了测量数字信号从一个规定地点传送至第二个规定地点所需时间的方法。

适用范围：GB/T 5095的本部分适用于电连接器、插座、电缆组件或互连系统。 本部分描述了测量样品对通过其中信号的上升时间所产生影响的方法。

适用范围：本标准规定了半导体集成电路的封装形式及外形尺寸。 本标准适用于半导体集成电路的封装设计和成品尺寸检验。 本标准不适用于混合集成电路。

适用范围：GB/T 5095的本部分适用于电连接器、插座、电缆组件或互连系统。 本部分描述了测量作为频率函数的衰减/插入损耗的频域法和时域法。 注： 本文件从始至终引用了“衰减”一词。当按样品和传输线类型进行测量的专业试验人员总结和报告试验测量结果时，必须使用合适的术语（衰减或插入损耗）。

适用范围：本标准规定了建筑门窗洞口宽度、高度尺寸的术语和定义、尺寸系列及选用要求。本标准适用于工业与民用建筑各类材料内、外墙体的门和窗洞口。

适用范围：本文件规定了振实密度的测定方法，即粉末在规定条件下在容器中被振实后的密度。