适用范围：本文件规定了铜银合金扁线的分类和标记、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存及随行文件和订货单内容。 本文件适用于电力、电工行业使用的铜银合金扁线(以下简称扁线)。

适用范围：本文件规定了使用拉曼光谱测量石墨烯相关二维材料的层数的方法。 本文件适用于利用机械剥离法制备的、横向尺寸不小于2 μm的石墨烯薄片的层数测量。化学气相沉积（CVD: chemical vapor deposition)法制备的以AB堆垛或ABC堆垛的石墨烯薄片可参照本方法执行。 注1： 测量石墨烯薄片的层数时，可单独或者综合几种方法联合测量并相互验证。 注2： 第5章给出了基于2D模的线型（A法)。第6章给出了基于SiO2/Si衬底的硅拉曼模峰高（B法)进行石墨烯薄片层数测量的拉曼光谱法。附录A给出了拉曼光谱法测量石墨烯薄片层数的各种方法概要一览表。附录B给出了基于石墨烯薄片G模的峰高（C法)进行石墨烯薄片层数测量的拉曼光谱法。

适用范围：本文件规定了超弹性钛镍形状记忆合金棒材和丝材的技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存和随行文件及订货单内容。 本文件适用于制作眼镜架、矫形丝、导引丝、通信天线、建筑业、电力行业等用途的圆形和矩形超弹性钛镍形状记忆合金棒材和丝材。

适用范围：本标准规定了以脆性失效为特征的精细陶瓷单轴强度数据的概率分布参数估计方法。 注： 精细陶瓷的失效强度被作为一个连续的随机变量。通常情况下，固定几何尺寸的样品在加载情况下发生失效，记录破坏时的载荷，所得的失效应力用来估算总体分布相关的参数。 本标准适用于以失效强度为基础的两参数韦布尔分布。此外，本标准限定试验样品(拉伸、弯曲、加载环等)是受单轴应力。6.4和6.5概述修正韦布尔参数估值偏差的方法，并从所有断裂源于单一缺陷总体(即单一失效模式)的数据集计算这些估值的置信区间。对于断裂源于多个独立缺陷总体的样本(例如竞争失效模式)，6.4和6.5中的偏倚修正和计算置信区间的方法不适用。

适用范围：本标准规定了纳米材料电阻率的接触式测量方法，包括测量原理、仪器设备、测量条件、测量步骤、影响因素等。 本标准中静态四探针法（A法）适用于纳米薄膜、纳米浆料和纳米粉体的电阻率测量；动态四探针法（B法）、动态四线两电极法（C法）适用于纳米粉体电阻率的测量。

适用范围：本标准规定了保温管道用高密度聚乙烯电热熔套(带)的标记、产品形式和规格尺寸、要求、试验方法、检验规则、标志和包装、运输和贮存。 本标准适用于高密度聚乙烯外护层聚氨酯保温管道补口使用的电热熔套(带)。

适用范围：本文件规定了聚丙烯再生塑料的分类与命名、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存等。 本文件适用于以废弃的聚丙烯塑料为原料，经筛选、分类、清洗、熔融挤出造粒等工艺（包含拉条、热切和/或水切等造粒工艺）制成的聚丙烯再生塑料颗粒，该聚丙烯再生塑料的基体为GB/T 2546.1规定的所有丙烯均聚物和其他1烯烃单体质量分数小于50％的丙烯共聚物以及上述聚合物质量分数不小于50％的共混物。 本文件不适用于来自医疗废物、农药包装等危险废物和放射性废物的聚丙烯再生塑料。 本文件不适用于聚乙烯和聚丙烯混合再生塑料。

适用范围：本文件规定了碳化钨粉末微观组织观察及缺陷分析的扫描电子显微镜检测方法。 本文件适用于粒度为0.1 μm～0.5 μm碳化钨粉末的微观组织及缺陷的扫描电子显微镜检测。

适用范围：本文件规定了再生塑料的术语和定义、分类和命名、要求、试验方法、可追溯性文件。 本文件适用于以废弃的热塑性塑料为原料，经筛选、分类、清洗、熔融挤出造粒(包含拉条、热切和/或水切等造粒工艺)等工艺制成的再生塑料颗粒，本文件还适用于聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)瓶片。 本文件不适用于来自医疗废物、农药包装等危险废物和放射性废物的再生塑料。

适用范围：本标准规定了原子力显微镜法（AFM）测量氧化石墨烯厚度的样品制备、测量步骤及结果计算等。 本标准适用于片径尺寸不小于300 nm 的氧化石墨烯厚度的测量。其他二维材料厚度的AFM测量可参照使用。