19 试验
65 农业
77 冶金
  • T/ICMTIA 5.2-2020 集成电路用ArF浸没式光刻胶 现行
    译:T/ICMTIA 5.2-2020 ArF immersion photomask for integrated circuits
    适用范围:范围:本文件适用于集成电路用ArF浸没式光刻胶; 主要技术内容:本文件规定了ArF浸没式光刻胶的要求、试验方法、检测标准及包装、运输、存储
    【国际标准分类号(ICS)】 :29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 :G64高纯试剂、高纯物质
    发布单位或类别:(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间: 2020-12-31 | 实施时间: 2021-03-01
  • T/ICMTIA 5.3-2020 集成电路用ArF光刻胶光刻检测方法 现行
    译:T/ICMTIA 5.3-2020 The method of inspecting ArF photoresist used in integrated circuits using optical lithography
    适用范围:范围:本文件适用于集成电路用ArF光刻胶; 主要技术内容:本文件规定了ArF光刻胶的光刻检测要求及方法、检测标准及包装、运输、存储及环保要求
    【国际标准分类号(ICS)】 :29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 :G64高纯试剂、高纯物质
    发布单位或类别:(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间: 2020-12-31 | 实施时间: 2021-03-01
  • T/ICMTIA 5.1-2020 集成电路用 ArF 干式光刻胶 现行
    译:T/ICMTIA 5.1-2020 ArF dry photoresist used in integrated circuits
    适用范围:范围:本文件适用于集成电路用 ArF 干式光刻胶; 主要技术内容:本文件规定了 ArF 干式光刻胶的要求、试验方法、检测标准及包装、运输、存储要求
    【国际标准分类号(ICS)】 :29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 :G64高纯试剂、高纯物质
    发布单位或类别:(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间: 2020-12-31 | 实施时间: 2021-03-01