19 试验
65 农业
77 冶金
  • T/SBX 022-2019 激光芯片筛选操作规程 现行
    译:T/SBX 022-2019 Laser chip screening operation procedures
    适用范围:主要技术内容:本规范规定了芯片外观筛选的人员、设备、环境等条件的要求及操作规程。本规范适用于各类芯片外观筛选工艺
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.260光电子学、激光设备 【中国标准分类号(CCS)】 :A60光学计量
    发布单位或类别:(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间: 2019-11-25 | 实施时间: 2019-12-15
  • T/CEC 114-2016 闪络定位仪校准规范 现行
    译:T/CEC 114-2016 Flashover locator calibration specification
    适用范围:主要技术内容:本标准规定了闪络定位仪的术语定义、技术要求、校准条件、校准项目和方法以及复校时间间隔的要求等。本标准适用于基于超声原理的GIS/GIL闪络定位仪的校准。本标准不适用于除基于超声原理之外的闪络定位仪的校准
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.260光电子学、激光设备 【中国标准分类号(CCS)】 :A52长度计量
    发布单位或类别:(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间: 2016-10-21 | 实施时间: -