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被代替
译：GB/T 7999-2007 Optical emission spectrometric analysis method of aluminum and aluminum alloys
适用范围：本标准规定了铝及铝合金中合金元素及杂质的光电直读发射光谱分析方法。
本标准适用于分析棒状或块状试样中硅、铁、铜、锰、镁、铬、镍、锌、钛、镓、钒、锆、铍、铅、锡、锑、铋、锶、铈、钙、磷、镉、砷、钠24个元素的光电直读发射光谱测定。测定范围见表1。
【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040.01金属材料试验综合
【中国标准分类号(CCS)】 ：H12轻金属及其合金分析方法
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2007-04-30 | 实施时间： 2007-11-01
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现行
译：GB/T 18876.2-2006 Standard practice for determining the metallographical constituent and inclusion content of steels and other metals by automatic image analysis—Part 2:Determining the inclusion ratings of steels by automatic image analysis and stereology
【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040.01金属材料试验综合
【中国标准分类号(CCS)】 ：H24金相检验方法
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2006-11-01 | 实施时间： 2007-02-01
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被代替
译：GB/T 8760-2006 Gallium arsenide single crystal—Determination of dislocation density
适用范围：本标准适用于位错密度为（0～100000）个/cm2 的砷化镓单晶的位错密度的测量。检测面为{111}面和{100}面。
【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040.01金属材料试验综合
【中国标准分类号(CCS)】 ：H17半金属及半导体材料分析方法
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2006-07-18 | 实施时间： 2006-11-01
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被代替
译：GB/T 1557-2006 The method of determining interstitial oxygen content in silicon by infrared absorption
适用范围：本标准规定了采用红外光谱法测定硅单晶中的间隙氧含量的方法。
本标准适用于室温电阻率大于0.1 Ω·cm的n型硅单晶和室温电阻率大于0.5 Ω·cm的p型硅单晶中间隙氧含量的测量。
本标准测量氧含量的有效范围从1×1016at·cm-3到硅中间隙氧的最大固溶度。
【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040.01金属材料试验综合
【中国标准分类号(CCS)】 ：H17半金属及半导体材料分析方法
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2006-07-18 | 实施时间： 2006-11-01
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被代替
译：GB/T 5252-2006 Germanium monocrystal—Inspection of dislocation etch pit density
适用范围：本标准适用于位错密度0cm-2～100000 cm-2 的n型和p型锗单晶棒或片的位错密度或其他缺陷的测量。观察面为（111）、（100）和（113）面。
【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040.01金属材料试验综合
【中国标准分类号(CCS)】 ：H17半金属及半导体材料分析方法
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2006-07-18 | 实施时间： 2006-11-01
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现行
译：GB/T 4326-2006 Extrinsic semiconductor single crystals measurement of Hall mobility and Hall coefficient
适用范围：本标准规定的测量方法适用于测量非本征半导体单晶材料的霍尔系数、载流子霍尔迁移率、电阻率和载流子浓度。
本标准规定的测量方法仅在有限的范围内对锗、硅、砷化镓和磷化镓单晶材料进行了实验室测量，但该方法也可适用于其他半导体单晶材料，一般情况下，适用于室温电阻率高达 104Ω·cm 半导体单晶材料的测试。
【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040.01金属材料试验综合
【中国标准分类号(CCS)】 ：H17半金属及半导体材料分析方法
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2006-07-18 | 实施时间： 2006-11-01
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现行
译：GB/T 11068-2006 Gallium arsenide epitaxial layer—Determination of carrier concentration voltage-capacitance method
适用范围：本标准规定了砷化镓外延层载流子浓度电容电压测量方法，适用于砷化镓外延层基体材料中载流子浓度的测量。测量范围：1×1014 cm-3～5×1017 cm-3。
【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040.01金属材料试验综合
【中国标准分类号(CCS)】 ：H17半金属及半导体材料分析方法
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2006-07-18 | 实施时间： 2006-11-01
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现行
译：GB/T 8758-2006 Measuring thickness of epitaxial layers of gallium arsenide by infrared interference
适用范围：本标准适用于砷化镓外延片外延层厚度的测量，测量厚度大于2μm。要求衬底材料的电阻率小于0.02Ω·cm，外延层的电阻率大于0.1Ω·cm。
【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040.01金属材料试验综合
【中国标准分类号(CCS)】 ：H17半金属及半导体材料分析方法
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2006-07-18 | 实施时间： 2006-11-01
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现行
译：GB/T 8757-2006 Determination of carrier concentration in gallium arsenide by the plasma resonance minimum
适用范围：本标准适用于掺杂砷化镓单晶中载流子浓度的测量。测量范围：
n-GaAs 1.0×10 17 cm -3～1.0×10 19 cm -3
p-GaAs 2.0×10 18 cm -3～1.0×10 20 cm -3
【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040.01金属材料试验综合
【中国标准分类号(CCS)】 ：H17半金属及半导体材料分析方法
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2006-07-18 | 实施时间： 2006-11-01
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现行
译：DL/T 999-2006 Steel ball grading standard for 2.25Cr-1Mo used in power station
【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040.01金属材料试验综合
【中国标准分类号(CCS)】 ：F24电力试验技术
发布单位或类别：(CN-DL)行业标准-电力 | 发布时间： 2006-05-06 | 实施时间： 2006-10-01
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现行
译：GB/T 19922-2005 Standard test methods for measuring site flatness on silicon wafers by noncontact scanning
【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040.01金属材料试验综合
【中国标准分类号(CCS)】 ：H17半金属及半导体材料分析方法
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2005-09-19 | 实施时间： 2006-04-01
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被代替
译：GB/T 19921-2005 Test method of particles on silicon wafer surfaces
【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040.01金属材料试验综合
【中国标准分类号(CCS)】 ：H17半金属及半导体材料分析方法
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2005-09-19 | 实施时间： 2006-04-01
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现行
译：GB/T 6148-2005 Test method for temperature-resistance coefficient of precision resistance alloys
【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040.01金属材料试验综合
【中国标准分类号(CCS)】 ：H21金属物理性能试验方法
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2005-09-09 | 实施时间： 2006-04-01
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被代替
译：GB/T 19346-2003 Measuring method of magnetic properties at alternative current for amorphous and nanocrystalline soft magnetic alloys
【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040.01金属材料试验综合
【中国标准分类号(CCS)】 ：H58精密合金
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2003-11-03 | 实施时间： 2004-05-01
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被代替
译：GB/T 19289-2003 Methods of measurement of density, resistivity and stacking factor of electrical steel sheet and strip
【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040.01金属材料试验综合
【中国标准分类号(CCS)】 ：H21金属物理性能试验方法
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2003-09-12 | 实施时间： 2004-04-01
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现行
译：GB/T 18876.1-2002 Standard practice for determining the metallographical constituent and inclusion content of steels and other metals by automatic image analysis—Part 1:Determining the inclusion or second-phase constituent content of steels and other metals by automatic image analysis and stereology
【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040.01金属材料试验综合
【中国标准分类号(CCS)】 ：H24金相检验方法
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2002-11-19 | 实施时间： 2003-06-01
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废止
译：DB13/T 447-2001 Exporting Carbon Steel Deep Groove Ball Bearing Inspection Regulations
【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040.01金属材料试验综合
【中国标准分类号(CCS)】 ：H11钢铁与铁合金分析方法
发布单位或类别：(CN-DB13)河北省地方标准 | 发布时间： 2001-11-29 | 实施时间： 2001-11-29
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被代替
译：GB/T 3655-2000 Methods of measurement of the magnetic properties of electrical steel sheet and strip by means of an Epstein frame
【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040.01金属材料试验综合
【中国标准分类号(CCS)】 ：H21金属物理性能试验方法
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2000-10-25 | 实施时间： 2001-09-01
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被代替
译：GB/T 7999-2000 Standard method for direct reading spectromertric analysis of aluminum and its alloys
【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040.01金属材料试验综合
【中国标准分类号(CCS)】 ：H12轻金属及其合金分析方法
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2000-08-28 | 实施时间： 2000-12-01
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现行
译：GB/T 18032-2000 The inspecting method of AB microscopic defect in gallium arsenide single crystal
【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040.01金属材料试验综合
【中国标准分类号(CCS)】 ：H24金相检验方法
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2000-04-03 | 实施时间： 2000-09-01
被代替
现行
被代替
被代替
被代替
现行
现行
现行
现行
现行
现行
被代替
现行
被代替
被代替
现行
废止
被代替
被代替
现行