国际标准分类(ICS)
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现行
译：GB/T 30654-2014 Test method for lattice constant of Ⅲ-nitride epitaxial layers适用范围：本标准规定了利用高分辨X射线衍射测试Ⅲ族氮化物外延片晶格常数的方法。 本标准适用于在氧化物衬底（Al2O3、ZnO等）或半导体衬底（GaN、Si、GaAs、SiC等）上外延生长的氮化物(Ga, In, Al)N单层或多层异质外延片晶格常数的测量。其他异质外延片晶格常数的测量也可参考本标准。【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040.20金属材料无损检测 【中国标准分类号(CCS)】 ：H21金属物理性能试验方法发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2014-12-31 | 实施时间： 2015-09-01收藏 -
被代替
译：GB/T 30652-2014 Trichlorosilane for silicon epitaxial适用范围：本标准规定了硅外延用三氯氢硅(SiHCl3)的要求、试验方法、检验规则和标志、包装、运输、贮存、质量证明书以及订货单 (或合同)内容。 本标准适用于以粗三氯氢硅为原料经过提纯而制得的硅外延用三氯氢硅（以下简称产品）。【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H83化合物半导体材料发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2014-12-31 | 实施时间： 2015-09-01收藏
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现行
译：GB/T 30658-2014 Prostheses and orthoses—Factors to be considered when specifying a prosthesis for a person who has had a lower limb amputation适用范围：本标准规定了为下肢截肢者开具假肢处方考虑的因素。【国际标准分类号(ICS)】 ：11.040.40外科植入物、假体和矫形 【中国标准分类号(CCS)】 ：C35矫形外科、骨科器械发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2014-12-31 | 实施时间： 2015-07-01收藏
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现行
译：GB/T 30660.1-2014 Prosthetics and orthotics—Vocabulary—Part 1:Normal gait适用范围：GB/T 30660的本部分规定了描述正常步态的术语。【国际标准分类号(ICS)】 ：11.040.40外科植入物、假体和矫形 【中国标准分类号(CCS)】 ：C35矫形外科、骨科器械发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2014-12-31 | 实施时间： 2015-07-01收藏
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现行
译：GB/T 30657-2014 Prostheses and orthoses—Factors to be included when describing physical activity of a person who has had a lower limb amputation(s) or who has a deficiency of a lower limb segment(s) present at birth适用范围：本标准规定了描述下肢截肢或先天性下肢缺失患者活动量考虑的因素。【国际标准分类号(ICS)】 ：11.040.40外科植入物、假体和矫形 【中国标准分类号(CCS)】 ：C35矫形外科、骨科器械发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2014-12-31 | 实施时间： 2015-07-01收藏
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现行
译：GB/T 30650-2014 Test method of operability of petrolatum tape at low temperature适用范围：本标准规定了检测矿脂防蚀带耐低温可操作性试验方法的仪器设备、取样、试板、检测步骤、结果评定和试验报告的要求。 本标准适用于矿脂防蚀带在-20 ℃~0 ℃的环境温度条件下施工适应性的检测。【国际标准分类号(ICS)】 ：25.220.99其他处理和镀涂 【中国标准分类号(CCS)】 ：A29材料防护发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2014-12-31 | 实施时间： 2015-07-01收藏
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现行
译：GB/T 30651-2014 Test method of flowability of petrolatum tape at high temperature适用范围：本标准规定了检测矿脂防蚀带耐高温流动性实验方法的仪器设备、取样、试验步骤、结果和试验报告的要求。 本标准适用于矿脂防蚀带在45 ℃～65 ℃的环境温度条件下施工适应性的检测。【国际标准分类号(ICS)】 ：25.220.99其他处理和镀涂 【中国标准分类号(CCS)】 ：A29材料防护发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2014-12-31 | 实施时间： 2015-07-01收藏
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被代替
译：GB/T 30656-2014 Polished monocrystalline silicon carbide wafers适用范围：本标准规定了4H及6H碳化硅单晶抛光片的要求、检验方法、检验规则、标志、包装、运输、储存、质量证明书及订货单（或合同）内容。 本标准适用于4H及6H碳化硅单晶研磨片经单面或双面抛光后制备的碳化硅单晶抛光片。产品主要用于制作半导体照明及电力电子器件的外延衬底。【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H83化合物半导体材料发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2014-12-31 | 实施时间： 2015-09-01收藏
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现行
译：GB/T 30653-2014 Test method for crystal quality of Ⅲ-nitride epitaxial layers适用范围：本标准规定了利用高分辨X射线衍射仪测试Ⅲ族氮化物外延片结晶质量的方法。 本标准适用于在氧化物衬底（Al2O3、ZnO等）或半导体衬底（GaN、Si、GaAs、SiC等）上外延生长的氮化物(Ga、In、Al)N单层或多层异质外延片结晶质量的测试。其他异质外延片结晶质量的测试也可参考本标准。【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040.20金属材料无损检测 【中国标准分类号(CCS)】 ：H21金属物理性能试验方法发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2014-12-31 | 实施时间： 2015-09-01收藏
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现行
译：GB/T 30655-2014 Test methods for internal quantum efficiency of nitride LED epitaxial layers适用范围：本标准规定了ⅢⅤ族氮化物LED外延片内量子效率的测试方法。 本标准适用于基于ⅢⅤ族氮化物的量子阱LED内量子效率的测试。【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040.99金属材料的其他试验方法 【中国标准分类号(CCS)】 ：H21金属物理性能试验方法发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2014-12-31 | 实施时间： 2015-09-01收藏
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