• DB35/T 1625-2016 一氧化碳中杂质含量的测定 气相色谱法 现行
    译:DB35/T 1625-2016 Determination of Impurity Content in Carbon Monoxide by Gas Chromatography
    适用范围:本标准规定了采用中心切割氦放电离子化气相色谱法测定一氧化碳中的杂质含量的方法原理、仪器 与设备、试剂与材料、采样、分析步骤及结果。 本标准适用于一氧化碳气体中氢、氧+氩、氮、甲烷、二氧化碳含量的测定。
    【国际标准分类号(ICS)】 :71.040.40化学分析 【中国标准分类号(CCS)】 :G86工业气体与化学气体
    发布单位或类别:(CN-DB35)福建省地方标准 | 发布时间: 2016-12-30 | 实施时间: 2017-04-01
  • DB35/T 1248-2012 电子工业用锗烷气体中杂质含量的测定 气相色谱法 现行
    译:DB35/T 1248-2012 Determination of Impurity Content in Gallium Arsenide Gas for Use in Electronic Industry by Gas Chromatography
    适用范围:本标准规定了用气相色谱法测定电子工业用锗烷气体中杂质含量的方法。 本标准适用于电子工业用锗烷气体中氢、氧(氩)、氮、甲烷、一氧化碳、二氧化碳含量的测定。 各杂质组分的检测限:氢:0.02 μmol/mol、氧(氩):0.01 μmol/mol、氮:0.01μmol/mol、甲烷:0.005 μmol/mol、一氧化碳:0.02 μmol/mol、二氧化碳:0.005μmol/mol;各杂质组分检测线性范围:氢、氧(氩)、氮≤1000μmol/mol,甲烷、一氧化碳、二氧化碳≤2000μmol/mol。
    【国际标准分类号(ICS)】 :71.040.40化学分析 【中国标准分类号(CCS)】 :G86工业气体与化学气体
    发布单位或类别:(CN-DB35)福建省地方标准 | 发布时间: 2012-05-04 | 实施时间: 2012-08-05
  • DB35/T 944-2009 纯氢、高纯氢、超纯氢中杂质含量的测定 氦放电离子化气相色谱法 现行
    译:DB35/T 944-2009 Determination of impurity content in pure hydrogen, high purity hydrogen, and ultra-pure hydrogen by helium discharge ionization gas chromatography
    适用范围:本标准规定了用氦放电离子化气相色谱法测定纯氢、高纯氢、超纯氢中杂质含量的方法。 本标准适用于纯氢、高纯氢、超纯氢等气体中氧(氩)、氮、甲烷、一氧化碳和二氧化碳含量的测定。
    【国际标准分类号(ICS)】 :71.040.40化学分析 【中国标准分类号(CCS)】 :G86工业气体与化学气体
    发布单位或类别:(CN-DB35)福建省地方标准 | 发布时间: 2009-05-26 | 实施时间: 2009-05-30