19 试验
65 农业
  • DB15/T 1243-2017 树脂中杂质含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法 废止
    译:DB15/T 1243-2017 Determination of impurity content in resin by inductively coupled plasma emission spectroscopy
    【国际标准分类号(ICS)】 :77.040.30金属材料化学分析 【中国标准分类号(CCS)】 :H17半金属及半导体材料分析方法
    发布单位或类别:(CN-DB15)内蒙古自治区地方标准 | 发布时间: 2017-09-10 | 实施时间: 2017-12-10
  • DB15/T 1241-2017 硅烷法生产多晶硅尾气中硅烷含量的测定 气相色谱法 废止
    译:DB15/T 1241-2017 Determination of SiH4 Concentration in Polysilicon Tailgas Produced by Silane Method Using Gas Chromatography (GC) Method
    【国际标准分类号(ICS)】 :77.040金属材料试验 【中国标准分类号(CCS)】 :H17半金属及半导体材料分析方法
    发布单位或类别:(CN-DB15)内蒙古自治区地方标准 | 发布时间: 2017-09-10 | 实施时间: 2017-12-10
  • DB15/T 1242-2017 氯硅烷中六氯硅氧烷含量的测定 气相色谱—质谱法 废止
    译:DB15/T 1242-2017 Determination of HCFS content in chlorosilanes by gas chromatography-mass spectrometry
    【国际标准分类号(ICS)】 :77.040.30金属材料化学分析 【中国标准分类号(CCS)】 :H17半金属及半导体材料分析方法
    发布单位或类别:(CN-DB15)内蒙古自治区地方标准 | 发布时间: 2017-09-10 | 实施时间: 2017-12-10
  • DB15/T 1240-2017 硅粉中铁、铝、钙、钛、硼、磷含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法 废止
    译:DB15/T 1240-2017 Determination of Iron, Aluminum, Calcium, Titanium, Boron, and Phosphorus Content in Silica Fume by Inductively Coupled Plasma Atomic Emission Spectroscopy
    【国际标准分类号(ICS)】 :77.040.30金属材料化学分析 【中国标准分类号(CCS)】 :H17半金属及半导体材料分析方法
    发布单位或类别:(CN-DB15)内蒙古自治区地方标准 | 发布时间: 2017-09-10 | 实施时间: 2017-12-10
  • DB15/T 1239-2017 多晶硅生产净化氢气用活性炭中杂质含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法 废止
    译:DB15/T 1239-2017 Determination of Impurity Content in Activated Carbon Used for Purification of Hydrogen Gas in Polysilicon Production by Inductively Coupled Plasma Atomic Emission Spectroscopy (ICP-AES)
    【国际标准分类号(ICS)】 :77.040.30金属材料化学分析 【中国标准分类号(CCS)】 :H17半金属及半导体材料分析方法
    发布单位或类别:(CN-DB15)内蒙古自治区地方标准 | 发布时间: 2017-09-10 | 实施时间: 2017-12-10