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  • GB/T 29504-2013 300 mm硅单晶 现行
    译:GB/T 29504-2013 300 mm monocrystalline silicon
    适用范围:本标准规定了直径300 mm、p型、100晶向、电阻率0.5 Ω·cm~20 Ω·cm硅单晶的技术要求、试验方法、检验规则以及标志、包装、运输、贮存等。 本标准适用于由直拉法制备的硅单晶,主要用于制作满足集成电路IC用线宽0.13 μm及以下技术需求的300 mm硅单晶抛光片。
    【国际标准分类号(ICS)】 :29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 :H82元素半导体材料
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2013-05-09 | 实施时间: 2014-02-01
  • GB/T 14164-2013 石油天然气输送管用热轧宽钢带 现行
    译:GB/T 14164-2013 Hot rolled wide strips for line pipe of petroleum and natural gas
    适用范围:本标准规定了石油、天然气输送管用热连轧宽钢带及其剪切钢板(以下简称钢带和钢板)的分类、牌号表示方法和代号、尺寸、外形、重量及允许偏差、技术要求、试验方法、检验规则及包装、标志和质量证明书。 本标准适用于按ISO 3183、GB/T 9711和API Spec 5L等标准生产的石油、天然气输送管用钢带,及具有类似要求的其他流体输送焊管用钢带。
    【国际标准分类号(ICS)】 :77.140.50扁平钢和半成品 【中国标准分类号(CCS)】 :H46钢板、钢带
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2013-05-09 | 实施时间: 2014-02-01
  • GB/T 29502-2013 硫铁矿烧渣 被代替
    译:GB/T 29502-2013 Purple ore
    适用范围:本标准规定了硫铁矿烧渣的要求、试验方法、检验规则、包装、标识、运输、贮存及合同(或订货单)内容等。 本标准适用于硫铁矿经高温焙烧产生的烧渣,主要用于制造铁球团、炼铁。
    【国际标准分类号(ICS)】 :77.120.01有色金属综合 【中国标准分类号(CCS)】 :H30/34冶金原料与辅助材料
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2013-05-09 | 实施时间: 2014-02-01
  • GB/T 5463.2-2013 非金属矿产品词汇 第2部分:滑石 现行
    译:GB/T 5463.2-2013 Non metallic mineral products vocabulary—Part 2:Talc
    适用范围:GB/T 5463的本部分规定了天然滑石矿产品的主要术语和定义。 本部分适用于天然滑石矿地质勘探、滑石矿产品加工、检验、贸易、科研和教学等领域。
    【国际标准分类号(ICS)】 :73.080非金属矿 【中国标准分类号(CCS)】 :Q64滑石制品
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2013-05-07 | 实施时间: 2013-12-01
  • GB/T 29505-2013 硅片平坦表面的表面粗糙度测量方法 现行
    译:GB/T 29505-2013 Test method for measuring surface roughness on planar surfaces of silicon wafer
    适用范围:本标准提供了硅片表面粗糙度测量常用的轮廓仪、干涉仪、散射仪三类方法的测量原理、测量设备和程序,并规定了硅片表面局部或整个区域的标准扫描位置图形及粗糙度缩写定义。 本标准适用于平坦硅片表面的粗糙度测量;也可用于其他类型的平坦晶片材料,但不适用于晶片边缘区域的粗糙度测量。 本标准不适用于带宽空间波长≤10 nm的测量仪器。
    【国际标准分类号(ICS)】 :29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 :H80/84半金属与半导体材料
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2013-05-09 | 实施时间: 2014-02-01
  • GB/T 29501-2013 隔热涂膜玻璃 现行
    译:GB/T 29501-2013 Thermal insulation painted glass
    适用范围:本标准规定了隔热涂膜玻璃的术语和定义、分类与标记、材料、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。 本标准适用于使用透明隔热涂料进行表面涂覆制备而成的具有阻挡太阳辐射热能力的玻璃。
    【国际标准分类号(ICS)】 :81.040.30玻璃产品 【中国标准分类号(CCS)】 :Q34工业技术玻璃
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2013-05-07 | 实施时间: 2013-12-01
  • GB/T 29503-2013 铝合金预拉伸板 被代替
    译:GB/T 29503-2013 Aluminium alloy stretched plates
    适用范围:本标准规定了铝合金预拉伸板的要求、试验方法、检验规则和标志、包装、运输、贮存及质量证明书与订货单(或合同)内容。 本标准适用于固溶热处理后按1.5%~3%的规定量进行拉伸的铝合金板材(以下简称板材)。
    【国际标准分类号(ICS)】 :77.150.10铝产品 【中国标准分类号(CCS)】 :H61轻金属及其合金
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2013-05-09 | 实施时间: 2014-02-01
  • GB/T 29506-2013 300 mm硅单晶抛光片 现行
    译:GB/T 29506-2013 300 mm polished monocrystalline silicon wafers
    适用范围:本标准规定了直径300 mm、p型、100晶向、电阻率0.5 Ω·cm~20 Ω·cm规格的硅单晶抛光片的术语和定义、技术要求、试验方法、检测规则以及标志、包装、运输、贮存等。 本标准适用于直径300 mm直拉单晶磨削片经双面抛光制备的硅单晶抛光片,产品主要用于满足集成电路IC用线宽90 nm技术需求的衬底片。
    【国际标准分类号(ICS)】 :29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 :H82元素半导体材料
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2013-05-09 | 实施时间: 2014-02-01
  • GB/T 29507-2013 硅片平整度、厚度及总厚度变化测试 自动非接触扫描法 现行
    译:GB/T 29507-2013 Test method for measuring flatness,thickness and total thickness variation on silicon wafers—Automated non-contact scanning
    适用范围:本标准规定了直径不小于50 mm,厚度不小于100 μm的切割、研磨、腐蚀、抛光、外延或其他表面状态的硅片平整度、厚度及总厚度变化的测试。 本标准为非破坏性、无接触的自动扫描测试方法,适用于洁净、干燥硅片的平整度和厚度测试,且不受硅片的厚度变化、表面状态和硅片形状的影响。
    【国际标准分类号(ICS)】 :29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 :H80/84半金属与半导体材料
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2013-05-09 | 实施时间: 2014-02-01
  • GB/T 17398-2013 铅冶炼防尘防毒技术规程 现行
    译:GB/T 17398-2013 Code of dust and poison control for lead smelting
    适用范围:本标准规定了铅冶炼防尘防毒的技术要求、措施和管理。 本标准适用于铅(包括再生铅)冶炼设计、生产、管理及铅冶炼企业防尘防毒的设计和施工。
    【国际标准分类号(ICS)】 :13.100职业安全、工业卫生 【中国标准分类号(CCS)】 :C70工业防尘防毒技术
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2013-05-09 | 实施时间: 2014-02-01