适用范围：本文件规定了形状、方向、位置、跳动和轮廓度特征检测与验证的一般规定、检验操作集、测量不确定度评估和合格评定等内容。 本文件适用于形状、方向、位置、跳动和轮廓度特征的检测与验证。

适用范围：本文件规定了应用最大实体要求和最小实体要求的检测与验证过程一般规定及检测用夹具设计的一般要求。 本文件适用于采用功能量规和夹具对应用最大实体要求、最小实体要求时的被测要素和/或基准要素的检测与验证。

适用范围：GB/T 20485的本部分规定了用于描述振动传感器输入输出特性数学模型中参数估计以及相应不确定度评估的术语和方法。所述方法是按ISO 16063-11、ISO 16063-13、ISO 16063-21和ISO 16063-22规定的校准程序，基于所采集的校准数据所进行的参数估计。本部分是对上述标准中现有程序与定义的扩展，所描述的不确定度评估符合ISO/IEC GUIDE 98-3和ISO/IEC GUIDE 98-3-SP1所确定的方法。 本部分中描述的新特征用于提高宽带/瞬态输入信号（如冲击）的校准和测量应用的质量。本部分给出了振动传感器对瞬态输入信号响应的特性描述方法，并通过用已获得的输出信号预测输入信号，为准确测量瞬态振动信号提供了依据。为了给出超出ISO 16063-13和ISO 16063-22所规定的单值特征范围的测量能力和不确定度，上述应用领域的加速度计校准数据宜按下述方法进行评估和记录。

适用范围：GB/T 33521的本部分提供了轨道系统至邻近建筑物基础之间的大地（即地面诱导结构噪声和地传振动的传播介质）的动态性能测量的指南和方法。目的是确定大地系统的参数，以便可靠地预测噪声和振动的传播、设计满足噪声和振动要求的轨道系统和地基、谋划对策以及验证设计方法。

适用范围：本文件适用于设计放置于地上、挂墙或嵌装的家用和类似用途带强制对流输出的储热式室内加热器。 本文件不适用于： ——自然对流输出控制型储热式加热器； ——自由输出的储热式加热器； ——永久安装的中央储热式系统或其部件。

适用范围：本标准描述了红外硫系光学薄膜（以下简称“薄膜”）折射率的测试原理、测试条件、仪器设备、样品、测试步骤、数据处理与折射率计算、计算精度和测试报告。 本标准适用于红外硫系光学薄膜折射率的测试，其他光学薄膜折射率的测试可参照使用。

适用范围：本标准规定了实验室测量带有减振材料（覆于手掌部、手指和拇指）的手套的振动传递率的测量和评价方法，即对振动在1/3倍频程处、中心频率范围25 Hz～1250 Hz时，根据振动从手柄到手掌部位的传递进行手套振动传递率的实验室测量、数据分析及报告的方法。 本标准中规定的测量方法也可用于覆于机器手柄或可能用于手套中的减振材料的振动传递率的测量。但是，当覆于手柄的材料按本标准的测量结果满足本标准时，也不能用于判定就是防振覆盖。以此方式经测量的材料如被用于手套上，在此情况下，该手套需按本标准中的测量步骤进行测量并满足本标准的减振性能要求，方能判定为防振手套。 注： GB/T 19739[1]规定了用于筛选机器手柄减振和手套使用的材料的方法。

适用范围：本标准给出了测量质量流量和密度的科里奥利流量计的选型、安装、校准、性能和操作指南。本标准亦适当考虑了被测流体的类型，并对流体的体积流量和其他相关参数的测量提供了指南。 注： 流体指空气、天然气、水、油、液化石油气、液化天然气、人工煤气、混合气体、各种浆料等。

适用范围：本文件适用于置于地面、台面、柜面或挂壁安装使用的风扇式加热器。 本文件不适用于： ——储热式室内加热器； ——房间加湿器； ——房间除湿机； ——空气净化器； ——工业专用加热器。

适用范围：GB/T 20485的本部分详细规定了用冲击激励测试加速度计的频率和相位响应的仪器及程序。 本部分适用于阻尼比小于1的压电式、压阻式和可变电容式加速度计，频率范围高达150 kHz。 要求用这种方法获得频率和相位响应的被测加速度计需具有ISO 5348所陈述的很好的机械安装特性，而且参考冲击球质量至少超过被测加速度计质量的三倍。 通过这种方法获得的被测加速度计的相位响应是假定加速度计在频率为0Hz时输入和输出信号之间是零相移。 注1： 用户可能注意到对同一加速度计在现场使用，其频率和相位响应可能会有所不同，这取决于测试结构的质量、一致性及安装方法。该方法只可以对加速度计的频率和相位响应进行定性评价。 注2： 相比关注足够的动态范围特性，用户可能不太关注得到的被测加速度计频率和相位响应的初始部分有更好的分辨率。通过这种方法获得加速度计频率和相位响应的最大好处是得到上述特性初始部分最佳的谱线数。

适用范围：本标准规定了纳米材料电阻率的接触式测量方法，包括测量原理、仪器设备、测量条件、测量步骤、影响因素等。 本标准中静态四探针法（A法）适用于纳米薄膜、纳米浆料和纳米粉体的电阻率测量；动态四探针法（B法）、动态四线两电极法（C法）适用于纳米粉体电阻率的测量。

适用范围：本文件规定了测量绝缘电阻设备的要求，这些设备适用于测量在非激励状态下的设备和电气安装设备的绝缘电阻。

适用范围：本文件规定了标称电压交流1 000 V和直流1 500 V及以下低压配电系统中用于电气安全性测量和监控的试验设备的通用要求。 当测量设备或测量装置涉及由GB/T 18216所涵盖的各种测量设备的测量任务时，GB/T 18216的各有关部分适用于每个有关的测量任务。 注： 术语“测量设备”在本文件中指“试验、测量和监控设备”。 GB/T 18216的其他部分可以规定补充的要求或者差异。 本文件不包含功能安全或者网络安全。

适用范围：本文件规定了圆柱直角尺、矩形直角尺、刀口矩形直角尺、三角形直角尺、刀口形直角尺、宽座刀口形直角尺、平面形直角尺、带座平面形直角尺和宽座直角尺（统称“直角尺”）的术语和定义﹑型式与基本参数﹑要求、检验条件、检验方法、标志与包装等。本文件适用于测量面长度为50 mm~1 600 mm的直角尺。

适用范围：本文件规定了测量设备的要求，这些测量设备是指以测得值指示或以极限值指示的用于测量包括连接线和端子在内的接地导体、保护接地导体以及等电位连接导体电阻的设备。

适用范围：本文件规定了测量线导体与防护导体之间，线导体与中线导体之间或两线导体之间的环路阻抗设备的要求，环路阻抗的测量是通过对在试线路加载从而测量电压降的方法进行的。

适用范围：本文件描述了0.1 Hz~100 MHz频率范围内测定固体绝缘材料介电常数和介质损耗因数特性的试验方法（AC方法）。 注： 本文件主要考虑带有保护电极的测量装置系统。

适用范围：本文件规定了光学对比度法（包括反射光谱法和光学图片法）测量石墨烯相关二维材料的层数的仪器设备、样品准备、测量步骤、测试报告等内容。 本文件适用于利用机械剥离法或化学气相沉积法(CVD: chemical vapor deposition)制得的晶体质量高、横向尺寸不小于2 μm、层数不多于5的石墨烯薄片及石墨烯薄膜的层数测量。其他方法制得的石墨烯薄片及石墨烯薄膜可参照本文件执行。

适用范围：本文件规定了使用拉曼光谱测量石墨烯相关二维材料的层数的方法。 本文件适用于利用机械剥离法制备的、横向尺寸不小于2 μm的石墨烯薄片的层数测量。化学气相沉积（CVD: chemical vapor deposition)法制备的以AB堆垛或ABC堆垛的石墨烯薄片可参照本方法执行。 注1： 测量石墨烯薄片的层数时，可单独或者综合几种方法联合测量并相互验证。 注2： 第5章给出了基于2D模的线型（A法)。第6章给出了基于SiO2/Si衬底的硅拉曼模峰高（B法)进行石墨烯薄片层数测量的拉曼光谱法。附录A给出了拉曼光谱法测量石墨烯薄片层数的各种方法概要一览表。附录B给出了基于石墨烯薄片G模的峰高（C法)进行石墨烯薄片层数测量的拉曼光谱法。

适用范围：本标准规定了原子力显微镜法（AFM）测量氧化石墨烯厚度的样品制备、测量步骤及结果计算等。 本标准适用于片径尺寸不小于300 nm 的氧化石墨烯厚度的测量。其他二维材料厚度的AFM测量可参照使用。