适用范围：本标准规定了用原子力显微术(Atomic force microscopy，简称AFM)测量纳米颗粒高度来表征纳米颗粒尺寸的方法。本标准适用于分散在平整衬底表面上的纳米颗粒测量。

适用范围：本标准规定了用于评价多壁碳纳米管宏观样品基本特性和杂质组成的测试技术，并且侧重于在工业领域可以实现的上述基本特性的测试技术。本标准适用于多壁碳纳米管材料研究、开发和商业化的材料表征。本标准技术内容不包含样品具体的制备和测试方法。

适用范围：本标准规定了在空气气氛下使用TGA对含单壁碳纳米管样品进行表征的方法。本标准适用于通过定量测试材料中非碳杂质(如金属催化剂)含量进行单壁碳纳米管样品的纯度评价，和对含单壁碳纳米管样品热稳定性和均一性进行品质评价。本标准不适用于确认单壁碳纳米管的存在和核实金属杂质组成。

适用范围：本标准规定了热重法测定样品挥发速率的方法。 本标准适用于使用热重分析仪测试25 ℃～500 ℃温度区间，单一挥发组分的挥发速率。本标准适用于测试挥发速率大于5 μg/min的样品。本标准的使用者有责任确定是否需重复测试以及重复测试的次数，从而达到使用要求。 本标准不包括与其使用相关的所有安全问题。在使用本标准方法之前，使用者有责任建立适当的安全与健康规范，并确认规范的适用性。

适用范围：本标准规定了通过热重分析仪（TGA）来确认失重和剩余量的程序，并建立起基于失重和剩余量试验的分析方法。 本标准适用于确认热重分析仪性能参数，包括失重和剩余量的重复性（精密度）、检测限、定量限、线性与偏差，技术说明和规章符合性。 本标准不包括与其使用相关的所有安全问题。在使用本标准方法之前，使用者有责任建立适当的安全与健康规范，并确认规范的适用性。

适用范围：本标准规定了利用Si（111）晶面原子台阶高度样品校准原子力显微镜z向标度的测量方法。 本标准适用于在大气或真空环境下工作的原子力显微镜，并且其z向放大倍率达到最大量级，即z向位移在纳米和亚纳米范围内，这是原子力显微镜用于检测半导体表面，光学器件表面和其他高科技元件表面中经常用到的检测范围。 本标准并未指出所有可能的安全问题，在应用本标准之前，使用者有责任采取适当的安全和健康措施，并保证符合国家有关法规规定的条件。

适用范围：本标准规定了热重分析仪质量示值校准的试验方法。 本标准适用于热重分析仪的质量/重量校准或性能确认，且适用于商业和定制设备。 本标准不包括与其使用相关的所有安全问题。在使用本标准方法之前，使用者有责任建立适当的安全与健康规范，并确认规范的适用性。