• T/CIE 152-2022 微电子器件假冒翻新物理特征识别方法与程序 现行
    译:T/CIE 152-2022 Microelectronics device counterfeit refurbishing physical feature recognition method and program
    适用范围:本文件规定了微电子器件假冒翻新物理特征识别方法与程序,包括外部特征分析、内部特征分析以及内部微观特征分析。 本文件适用于塑封及气密封装的微电子器件。
    【国际标准分类号(ICS)】 :19.020试验条件和规程综合 【中国标准分类号(CCS)】 :L74程序语言
    发布单位或类别:(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间: 2022-12-31 | 实施时间: 2023-01-31