适用范围：本标准测试方法适用于具有一体化结构，呈圆、扁平或方形结构的单芯或多芯银和/或银合金包套Bi2212 与Bi2223氧化物超导体短直样品直流临界电流的测量。本标准测试方法适用于临界电流小于500 A、n值大于5的超导体。测量可在有或无外加磁场的条件下进行。在磁场环境中测试时，磁场应垂直于样品的长度方向。在带状样品的测试中，磁场可垂直或平行于超导体较宽的一面（如果是方形，任何一面均可）。测试过程中，被测样品浸泡在液氮或液氦中。本标准还给出了在通常测试中本实验方法所允许的偏差以及其他具体限定。

适用范围：本标准规定了工业用的电阻测定复合超导体临界温度的测量方法。 本标准适用于一体化结构的圆形、扁平或方形截面的单芯或多芯复合超导体，包括Cu/NbTi、Cu/CuNi/NbTi和CuNi/NbTi复合超导体，Cu/Nb3Sn和Cu/Nb3Al复合超导体，以及金属包套的MgB2复合超导体，金属为稳定体的Bi系氧化物超导体，Y系或稀土金属基涂层导体。

适用范围：本标准规定了NbTi/Cu复合超导线室温拉伸试验方法。 本试验方法用以测量弹性模量，规定塑性延伸强度（由复合体中Cu的屈服而产生的）和抗拉强度。 断后伸长率和由组分中NbTi屈服定义的第二类规定塑性延伸强度仅作参考（见A.1和A.2）。 本标准适用于测试横截面积在0.15 mm2～2 mm2，铜超比在1.0～8.0之间的圆形或矩形截面的无绝缘覆层试样。

适用范围：本标准规定了一种块状高温超导体俘获磁场（俘获磁通密度）的测量方法。 本标准适用于具有规则形状，诸如圆片、圆柱、矩形块和正六棱柱的大晶粒块状氧化物超导体在4.2 K~90 K温度范围内的俘获磁通密度评估。基于标准化的目的，只报告液氮温度下的俘获磁通密度。

适用范围：本标准规定了由铜、铜-镍（Cu、Cu-Ni）或铜/铜-镍（Cu/Cu-Ni）基体和铌-钛（Nb-Ti）芯丝组成的复合超导体的剩余电阻比（RRR）测试方法。本标准适用于在无外加磁场的条件下，对剩余电阻比低于350、横截面小于3mm2、具有矩形或圆型横截面的一体化超导线1）进行剩余电阻比的测定。

适用范围：本标准规定了精密电阻合金电阻率测试方法。 本标准适用于在参考温度为20 ℃时，测量实心并具有均匀截面的精密电阻合金的体积电阻率和单位长度电阻。对于其他合金在此温度的电阻率的测量亦可参照采用。

适用范围：本标准测试方法适用于测定铜-超比大于1的铜/铌钛(Cu/Nb-Ti)复合超导体的直流临界电流，也同样适用于测定铌钛芯丝直径大于1 μm、铜-超比大于0．9、铜镍合金(Cu-Ni)-超导体比大于0.2的铜/铜镍/铌钛(Cu/Cu-Ni/Nb-Ti)超导线的直流临界电流。由于铜/铌钛(Cu/Nb-Ti)复合超导体和铜/铜镍/铌钛(Cu/Cu-Ni/Nb-Ti)超导体两者的临界电流测试方法略有不同，本标准的附录C(规范性)将介绍测量铜/铜镍/铌钛(Cu/Cu-Ni/Nb-Ti)超导体时所需特别遵从的规定。 本标准测试方法适用于在标准的测试条件下超导体所处的磁场小于或等于其上临界磁场的0.7倍、临界电流小于1 000 A、n值大于12的超导体。测量时，被测样品应浸泡在已知温度的液氦中。被测导体应为圆形或矩形截面的一体化超导线，其截面积小于2 mm2。被测样品应具有螺旋线圈几何形状。 本标准还给出在日常测试中为本实验方法所允许的偏离以及其他具体限定。 临界电流大于1 000 A或者截面积大于2 mm2的导体也可以使用本方法测量，但测量不确定度会增大，且自场效应更明显(见附录B)。此外，为了简单和保持比较低的测量不确定度，本标准不涉及对于大截面导体可能更适合的特殊样品形状。 本标准给出的测量方法经过适当修改可适用于测定其他类型复合超导线的临界电流。

适用范围：本标准规定了用单片磁导计测量电工钢片（带）小单片试样的磁化装置、取样、试样、测量装置、测量、等效磁路长度的确定、测量结果的不确定度等