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  1. 全部
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  6. 2020
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• 现行
  GB/T 10567.1-1997 铜及铜合金加工材残余应力检验方法 硝酸亚汞试验法
  译：GB/T 10567.1-1997 Wrought copper and copper alloys—Detection of residual stress—Mercury nitrate test
  【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040.30金属材料化学分析 【中国标准分类号(CCS)】 ：H13重金属及其合金分析方法
  发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1997-12-22 | 实施时间： 1998-08-01
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• 被代替
  GB/T 17167-1997 企业能源计量器具配备和管理导则
  译：GB/T 17167-1997 Guides for providing and managing of the measuring instruments of energy in enterprise
  【国际标准分类号(ICS)】 ：27.010能源和热传导工程综合 【中国标准分类号(CCS)】 ：F01技术管理
  发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1997-12-22 | 实施时间： 1998-10-01
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• 被代替
  GB/T 10567.2-1997 铜及铜合金加工材残余应力检验方法 氨熏试验方法
  译：GB/T 10567.2-1997 Wrought copper and copper alloys—Detection of residual stress—Ammonia test
  【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040.30金属材料化学分析 【中国标准分类号(CCS)】 ：H13重金属及其合金分析方法
  发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1997-12-22 | 实施时间： 1998-08-01
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• 被代替
  GB/T 1558-1997 硅中代位碳原子含量红外吸收测量方法
  译：GB/T 1558-1997 Test method for substitutional atomic carbon content of silicon by infrared absorption
  【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H21金属物理性能试验方法
  发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1997-12-22 | 实施时间： 1998-08-01
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• 被代替
  GB/T 1555-1997 半导体单晶晶向测定方法
  译：GB/T 1555-1997 Test methods for determining the orientation of a semiconductor single crystal
  【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H21金属物理性能试验方法
  发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1997-12-22 | 实施时间： 1998-08-01
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• 被代替
  GB/T 17168-1997 齿科铸造贵金属合金
  译：GB/T 17168-1997 Dental casting precious metal alloys
  【国际标准分类号(ICS)】 ：77.150.99其他有色金属产品 【中国标准分类号(CCS)】 ：H68贵金属及其合金
  发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1997-12-22 | 实施时间： 1998-08-01
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• 被代替
  GB/T 1527-1997 铜及铜合金拉制管
  译：GB/T 1527-1997 Drawn tube of copper and copper alloys
  【国际标准分类号(ICS)】 ：23.040.15有色金属管 【中国标准分类号(CCS)】 ：H62重金属及其合金
  发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1997-12-22 | 实施时间： 1998-08-01
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• 被代替
  GB/T 17166-1997 企业能源审计技术通则
  译：GB/T 17166-1997 General principle of energy audit on industrial and commercial enterprise
  【国际标准分类号(ICS)】 ：27.010能源和热传导工程综合 【中国标准分类号(CCS)】 ：F01技术管理
  发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1997-12-22 | 实施时间： 1998-10-01
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• 废止
  GB/T 17169-1997 硅抛光片和外延片表面质量光反射测试方法
  译：GB/T 17169-1997 Test method for the surface quality of polished silicon wafers and epitaxial wafers by optical-reflection
  【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H24金相检验方法
  发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1997-12-22 | 实施时间： 1998-08-01
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• 现行
  SC/T 8110-1997 渔船舱室照明
  译：SC/T 8110-1997 Lighten of fishing vessel cabins
  【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：暂无
  发布单位或类别：(CN-SC)行业标准-水产 | 发布时间： 1997-12-19 | 实施时间： 1998-05-01
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