国际标准分类(ICS)
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译：GB/T 3884.20-2018 Methods for chemical analysis of copper concentrates—Part 20:Determination of mercury content—Solid sampling and direct mercury analysis method适用范围：GB/T 3884的本部分规定了铜精矿中汞量的测定方法。本部分适用于铜精矿中汞量的测定，测定范围（质量分数)：0.050 μg /g~21.0 μg /g。【国际标准分类号(ICS)】 ：77.120.30铜和铜合金 【中国标准分类号(CCS)】 ：H13重金属及其合金分析方法发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2018-09-17 | 实施时间： 2019-06-01收藏 -
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译：GB/T 4678.13-2018 Die casting dies—Components—Part 13: Ejector plate washers适用范围：GB/T 4678的本部分规定了压铸模用推板垫圈的结构型式和尺寸、要求、材料及标记。本部分适用于压铸模用推板垫圈。【国际标准分类号(ICS)】 ：25.120.30模制设备和铸造设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：J46模具发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2018-09-17 | 实施时间： 2019-04-01收藏
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译：GB/T 4060-2018 Test method for boron content in polycrystalline silicon by vacuum zone-melting method适用范围：本标准规定了多晶硅中基硼含量的测试方法。本标准适用于在硅芯上沉积生长的多晶硅棒中基硼含量的测定。基硼含量（原子数）测定范围为0.01×1013 cm－3～5×1015 cm－3。【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040金属材料试验 【中国标准分类号(CCS)】 ：H17半金属及半导体材料分析方法发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2018-09-17 | 实施时间： 2019-06-01收藏
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译：GB/T 4937.12-2018 Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 12:Vibration,variable frequency适用范围：GB/T 4937的本部分的目的是测定在规定频率范围内，振动对器件的影响。本试验是破坏性试验，通常用于有空腔的器件。本试验与GB/T 2423.10-2008基本一致，但鉴于半导体器件的特殊要求，采用本部分的条款。【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080.01半导体器分立件综合 【中国标准分类号(CCS)】 ：L40/49半导体分立器件发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2018-09-17 | 实施时间： 2019-01-01收藏
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译：GB/T 4678.12-2018 Die casting dies—Components—Part 12:Return pins适用范围：GB/T 4678的本部分规定了压铸模用复位杆的结构型式和尺寸、要求、材料及标记。本部分适用于压铸模用复位杆。【国际标准分类号(ICS)】 ：25.120.30模制设备和铸造设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：J46模具发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2018-09-17 | 实施时间： 2019-04-01收藏
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译：GB/T 4937.11-2018 Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 11:Rapid change of temperature—Two-fluid-bath method适用范围：GB/T 4937的本部分规定了快速温度变化--双液槽法的试验方法。当器件鉴定既可以采用空气空气温度循环又可以采用快速温度变化--双液槽法试验时，优先采用空气空气温度循环试验。本试验也可采用少量循环(5次～10次)的方式来模拟清洗器件的加热液体对器件的影响。本试验适用于所有的半导体器件。除非在有关规范中另有说明，本试验被认为是破坏性的。本试验与GB/T 2423.22-2002基本一致，但鉴于半导体器件的特殊要求，采用本部分的条款。【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080.01半导体器分立件综合 【中国标准分类号(CCS)】 ：L40/49半导体分立器件发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2018-09-17 | 实施时间： 2019-01-01收藏
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译：GB/T 3884.21-2018 Methods for chemical analysis of copper concentrates—Part 21:Determination of copper,sulfur,lead,zinc,iron,aluminium,calcium,magnesium,manganese content—Wavelength dispersive X-ray fluorescence spectrometric method适用范围：GB/T 3884的本部分规定了波长色散X射线荧光光谱法测定铜精矿中的铜、硫、铅、锌、铁、铝、钙、镁、锰含量的方法。本部分适用于铜精矿中铜、硫、铅、锌、铁、铝、钙、镁、锰含量的测定。测定范围（质量分数）见表1。【国际标准分类号(ICS)】 ：77.120.30铜和铜合金 【中国标准分类号(CCS)】 ：H13重金属及其合金分析方法发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2018-09-17 | 实施时间： 2019-06-01收藏
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译：GB/T 4249-2018 Geometrical product specifications(GPS)—Fundamentals—Concepts,principles and rules适用范围：本标准规定了对创建、解释和应用所有与产品尺寸、几何技术规范（GPS）和检验相关的标准、技术规范、技术文件均有效的基本概念、原则和规则。 本标准适用于所有类型图样上GPS标注的解释。 本标准中所指的“图样”是广义的概念，包含表达工件规范的所有文件。【国际标准分类号(ICS)】 ：01.100.20机械工程制图 【中国标准分类号(CCS)】 ：J04基础标准与通用方法发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2018-09-17 | 实施时间： 2019-04-01收藏
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译：GB/T 4937.13-2018 Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 13:Salt atmosphere适用范围：GB/T 4937的本部分规定了半导体器件的盐雾试验方法，以确定半导体器件耐腐蚀的能力。本试验是模拟严酷的海边大气对器件暴露表面影响的加速试验。适用于工作在海上和沿海地区的器件。 本试验是破坏性试验。 本试验总体上符合IEC 60068-2-11，但鉴于半导体器件的特殊要求，采用本部分的条款。【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080.01半导体器分立件综合 【中国标准分类号(CCS)】 ：L40/49半导体分立器件发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2018-09-17 | 实施时间： 2019-01-01收藏
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译：GB/T 4676-2018 Abrasive grains—Sampling and splitting适用范围：本标准规定了普通磨料取样方法的术语和定义、一般规则、取样和缩分工具、样品、取样、缩分和样品保管。 本标准适用于普通磨料。非磨削用途的刚玉系列、碳化物系列产品可以参照使用。【国际标准分类号(ICS)】 ：25.100.70磨料磨具 【中国标准分类号(CCS)】 ：J43磨料与磨具发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2018-09-17 | 实施时间： 2019-04-01收藏
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