国际标准分类(ICS)
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现行译:GB/T 30648.1-2014 Paints and varnishes—Determination of resistance to liquids—Part 1:Immersion in liquids other than water适用范围:GB/T 30648的本部分规定了单一涂层或复合涂层耐除水之外的液态或膏状的测试液作用的一般试验方法。 本方法可以确定测试液对涂层表面的影响或对底材的破坏程度。【国际标准分类号(ICS)】 :87.040涂料和清漆 【中国标准分类号(CCS)】 :G50/59涂料、颜料、染料发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2014-12-31 | 实施时间: 2015-07-01收藏
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现行译:GB/T 30654-2014 Test method for lattice constant of Ⅲ-nitride epitaxial layers适用范围:本标准规定了利用高分辨X射线衍射测试Ⅲ族氮化物外延片晶格常数的方法。 本标准适用于在氧化物衬底(Al2O3、ZnO等)或半导体衬底(GaN、Si、GaAs、SiC等)上外延生长的氮化物(Ga, In, Al)N单层或多层异质外延片晶格常数的测量。其他异质外延片晶格常数的测量也可参考本标准。【国际标准分类号(ICS)】 :77.040.20金属材料无损检测 【中国标准分类号(CCS)】 :H21金属物理性能试验方法发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2014-12-31 | 实施时间: 2015-09-01收藏
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被代替译:GB/T 30652-2014 Trichlorosilane for silicon epitaxial适用范围:本标准规定了硅外延用三氯氢硅(SiHCl3)的要求、试验方法、检验规则和标志、包装、运输、贮存、质量证明书以及订货单 (或合同)内容。 本标准适用于以粗三氯氢硅为原料经过提纯而制得的硅外延用三氯氢硅(以下简称产品)。【国际标准分类号(ICS)】 :29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 :H83化合物半导体材料发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2014-12-31 | 实施时间: 2015-09-01收藏
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现行译:GB/T 30650-2014 Test method of operability of petrolatum tape at low temperature适用范围:本标准规定了检测矿脂防蚀带耐低温可操作性试验方法的仪器设备、取样、试板、检测步骤、结果评定和试验报告的要求。 本标准适用于矿脂防蚀带在-20 ℃~0 ℃的环境温度条件下施工适应性的检测。【国际标准分类号(ICS)】 :25.220.99其他处理和镀涂 【中国标准分类号(CCS)】 :A29材料防护发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2014-12-31 | 实施时间: 2015-07-01收藏
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现行译:GB/T 30651-2014 Test method of flowability of petrolatum tape at high temperature适用范围:本标准规定了检测矿脂防蚀带耐高温流动性实验方法的仪器设备、取样、试验步骤、结果和试验报告的要求。 本标准适用于矿脂防蚀带在45 ℃~65 ℃的环境温度条件下施工适应性的检测。【国际标准分类号(ICS)】 :25.220.99其他处理和镀涂 【中国标准分类号(CCS)】 :A29材料防护发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2014-12-31 | 实施时间: 2015-07-01收藏
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现行译:GB/T 30646-2014 Determination of phthalate plasticizers content in coatings—Gas chromatography/mass spectrometry method适用范围:本标准规定了采用气相色谱/质谱联用法测定涂料中邻苯二甲酸酯的含量。 本标准适用于涂料及涂料用原材料中各种邻苯二甲酸酯含量的测定。包括但不限于列举的邻苯二甲酸酯,如邻苯二甲酸二丁酯(DBP)、邻苯二甲酸丁苄酯(BBP)、邻苯二甲酸二异辛酯(DEHP)、邻苯二甲酸二辛酯(DNOP)、邻苯二甲酸二异壬酯(DINP)、邻苯二甲酸二异癸酯(DIDP)等,其他类型的邻苯二甲酸酯也可参照本方法执行。【国际标准分类号(ICS)】 :87.040涂料和清漆 【中国标准分类号(CCS)】 :G50/59涂料、颜料、染料发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2014-12-31 | 实施时间: 2015-07-01收藏
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被代替译:GB/T 30656-2014 Polished monocrystalline silicon carbide wafers适用范围:本标准规定了4H及6H碳化硅单晶抛光片的要求、检验方法、检验规则、标志、包装、运输、储存、质量证明书及订货单(或合同)内容。 本标准适用于4H及6H碳化硅单晶研磨片经单面或双面抛光后制备的碳化硅单晶抛光片。产品主要用于制作半导体照明及电力电子器件的外延衬底。【国际标准分类号(ICS)】 :29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 :H83化合物半导体材料发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2014-12-31 | 实施时间: 2015-09-01收藏
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现行译:GB/T 30647-2014 Determination of harmful elements total content of coatings适用范围:本标准规定了涂料中有害元素总含量的测试方法。 本标准适用于涂料中各种有害元素总含量的测定,包括但不限于例举的元素,如铅、镉、汞、铬、砷元素等。【国际标准分类号(ICS)】 :87.040涂料和清漆 【中国标准分类号(CCS)】 :G50/59涂料、颜料、染料发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2014-12-31 | 实施时间: 2015-07-01收藏
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现行译:GB/T 30649-2014 Rubber articles for sound barriers适用范围:本标准规定了声屏障用橡胶件的要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输与贮存。 本标准适用于铁路、公路、城市轨道交通、城市道路声屏障用橡胶垫、橡胶条等橡胶件(以下简称橡胶件)。【国际标准分类号(ICS)】 :83.140.99其他橡胶和塑料制品 【中国标准分类号(CCS)】 :G47其他橡胶制品发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2014-12-31 | 实施时间: 2015-07-01收藏
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现行译:GB/T 30653-2014 Test method for crystal quality of Ⅲ-nitride epitaxial layers适用范围:本标准规定了利用高分辨X射线衍射仪测试Ⅲ族氮化物外延片结晶质量的方法。 本标准适用于在氧化物衬底(Al2O3、ZnO等)或半导体衬底(GaN、Si、GaAs、SiC等)上外延生长的氮化物(Ga、In、Al)N单层或多层异质外延片结晶质量的测试。其他异质外延片结晶质量的测试也可参考本标准。【国际标准分类号(ICS)】 :77.040.20金属材料无损检测 【中国标准分类号(CCS)】 :H21金属物理性能试验方法发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2014-12-31 | 实施时间: 2015-09-01收藏