适用范围：本标准规定了利用高分辨X射线衍射测试Ⅲ族氮化物外延片晶格常数的方法。 本标准适用于在氧化物衬底（Al2O3、ZnO等）或半导体衬底（GaN、Si、GaAs、SiC等）上外延生长的氮化物(Ga, In, Al)N单层或多层异质外延片晶格常数的测量。其他异质外延片晶格常数的测量也可参考本标准。

适用范围：本标准规定了硅外延用三氯氢硅(SiHCl3)的要求、试验方法、检验规则和标志、包装、运输、贮存、质量证明书以及订货单 (或合同)内容。 本标准适用于以粗三氯氢硅为原料经过提纯而制得的硅外延用三氯氢硅（以下简称产品）。

适用范围：本标准规定了利用高分辨X射线衍射仪测试Ⅲ族氮化物外延片结晶质量的方法。 本标准适用于在氧化物衬底（Al2O3、ZnO等）或半导体衬底（GaN、Si、GaAs、SiC等）上外延生长的氮化物(Ga、In、Al)N单层或多层异质外延片结晶质量的测试。其他异质外延片结晶质量的测试也可参考本标准。

适用范围：GB/T 30648的本部分规定了单一涂层或复合涂层耐除水之外的液态或膏状的测试液作用的一般试验方法。 本方法可以确定测试液对涂层表面的影响或对底材的破坏程度。

适用范围：本标准规定了检测矿脂防蚀带耐低温可操作性试验方法的仪器设备、取样、试板、检测步骤、结果评定和试验报告的要求。 本标准适用于矿脂防蚀带在-20 ℃~0 ℃的环境温度条件下施工适应性的检测。

适用范围：本标准规定了ⅢⅤ族氮化物LED外延片内量子效率的测试方法。 本标准适用于基于ⅢⅤ族氮化物的量子阱LED内量子效率的测试。

适用范围：本标准规定了涂料中有害元素总含量的测试方法。 本标准适用于涂料中各种有害元素总含量的测定，包括但不限于例举的元素，如铅、镉、汞、铬、砷元素等。

适用范围：本标准规定了检测矿脂防蚀带耐高温流动性实验方法的仪器设备、取样、试验步骤、结果和试验报告的要求。 本标准适用于矿脂防蚀带在45 ℃～65 ℃的环境温度条件下施工适应性的检测。

适用范围：本标准规定了4H及6H碳化硅单晶抛光片的要求、检验方法、检验规则、标志、包装、运输、储存、质量证明书及订货单（或合同）内容。 本标准适用于4H及6H碳化硅单晶研磨片经单面或双面抛光后制备的碳化硅单晶抛光片。产品主要用于制作半导体照明及电力电子器件的外延衬底。

适用范围：本标准规定了声屏障用橡胶件的要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输与贮存。 本标准适用于铁路、公路、城市轨道交通、城市道路声屏障用橡胶垫、橡胶条等橡胶件（以下简称橡胶件）。