适用范围：GB/T 15972的本部分规定了光纤数值孔径的试验方法，确立了对试验装置、注入条件、程序、计算方法和结果的统一要求。 本部分适用于对A1类、A2类多模光纤数值孔径的测量和成品光纤光缆的商业性检验。对A3类﹑A4类多模光纤数值孔径的测量也可参照使用。

适用范围：GB/T 15972的本部分规定了测量光纤宏弯敏感性的统一要求。 本部分适用于测量B类单模光纤在1550nm或1625nm波长及A1类多模光纤在850nm和（或）1300nm波长的宏弯损耗，以检验光纤在规定波长上的宏弯敏感性。本部分适用于光纤光缆的商业性检验。

适用范围：GB/T 15972的本部分规定了光纤模场直径的试验方法, 确立了对试验装置、注入条件、程序、计算方法和结果的统一要求。 本部分适用于对B类单模光纤模场直径的测量和成品光纤光缆的商业性检验。

适用范围：GB/T 15972的本部分规定了光纤微分模时延的试验方法，确立了对试验装置、注入条件、程序、计算方法和结果的统一要求。 本部分适用于A1类渐变折射率多模光纤微分模时延的测量和成品光纤光缆的商业性检验。 本部分确定的试验方法一般应用于生产工厂和研究院所，但不适合在野外操作。

适用范围：GB/T 15972的本部分规定了评估光纤和光缆在给定的伽玛辐照环境中性能的测量方法和试验程序。 本部分适用于测定成缆或未成缆A1类、A2类多模光纤和B类单模光纤因暴露在伽玛辐照下产生的辐照感应衰减值。 本部分不适用于光缆中非传光组分材料的测量，如果光缆材料暴露在辐照中会发生恶化，则需要进一步研究和寻找其他的测量方法。 注： 该试验对其他类型光纤的适用性在研究中。有关背景描述见附录A，详细背景信息见IEC/TR 62283。

适用范围：GB/T 15972的本部分规定了评估光纤在给定环境中温度变化性能的测量方法和试验程序。 本部分适用于确定A1类多模光纤和B类单模光纤在实际应用、贮存和（或）运输过程中可能发生的温度变化环境条件下的适应性能。

适用范围：GB/T 15972的本部分规定了单模光纤光缆截止波长的试验方法，确立了对试验装置、注入条件、程序、计算方法和结果的统一要求。 本部分适用于对单模成品光纤光缆截止波长的测量和商业性检验。

适用范围：GB/T 15972的本部分规定了透光率变化的监测方法和试验程序。 本部分适用于所有B类单模光纤和A类多模光纤成品光纤光缆的商业性检验。

适用范围：GB/T 15972的本部分规定了光纤波长色散的试验方法，确立了对试验装置、注入条件、程序、计算方法和结果的统一要求。 本部分适用于对A1类多模光纤和B类单模光纤波长色散的测量和成品光纤光缆的商业性检验。

适用范围：GB/T 15972的本部分规定了评估光纤在给定环境中浸水性能的测量方法和试验程序。 本部分适用于确定A1类多模光纤和B类单模光纤在实际应用、贮存和（或）运输过程中可能发生的浸泡在蒸馏水或软化水环境条件下的适应性能。