国际标准分类(ICS)
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译：GB/T 35001-2018 Microwave circuits—Measuring methods for noise source适用范围：本标准规定了噪声源主要电参数的测试方法。本标准适用于噪声源的电参数测试。【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L58混合集成电路发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2018-03-15 | 实施时间： 2018-08-01收藏 -
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译：GB/T 35002-2018 Microwave circuits—Measuring methods for frequency source适用范围：本标准规定了微波电路频率源的电参数测试方法。本标准适用于微波电路频率源，包括直接模拟合成源、直接数字合成源、间接模拟合成源和间接数字合成源，其他产品可参照使用。【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L58混合集成电路发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2018-03-15 | 实施时间： 2018-08-01收藏
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译：GB/T 35008-2018 Specification for serial NOR flash interface适用范围：本标准规定了串行或非（NOR)型快闪存储器（以下称为器件)的物理接口、存储阵列架构、指令定义和参数表说明等。本标准适用于地址为24位的串行NOR型快闪存储器的设计和使用。【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2018-03-15 | 实施时间： 2018-08-01收藏
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译：GB/T 35006-2018 Semiconductor integrated circuits—Measuring method of level converter适用范围：本标准规定了半导体集成电路电平转换器（以下称为器件）功能、静态参数和动态参数的测试方法。本标准适用于半导体集成电路电平转换器功能、静态参数和动态参数的测试。【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2018-03-15 | 实施时间： 2018-08-01收藏
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译：GB/T 35005-2018 Test methods for flip chip integrated circuits适用范围：本标准规定了倒装焊集成电路封装工艺中凸点共面性、凸点剪切力、芯片剪切拉脱力、焊点缺陷、底部填充缺陷等方面相关的物理试验方法。本标准适用于陶瓷封装或塑料封装的倒装焊单片集成电路。【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L55/59微电路发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2018-03-15 | 实施时间： 2018-08-01收藏
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译：GB/T 35009-2018 Specification for serial NAND flash interface适用范围：本标准规定了串行与非（NAND）型快闪存储器（以下称为器件）的物理接口、存储阵列架构、指令定义和参数表说明等。本标准适用于串行NAND型快闪存储器的设计和使用。【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2018-03-15 | 实施时间： 2018-08-01收藏
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译：GB/T 35010.1-2018 Semiconductor die products—Part 1:Requirements for procurement and use【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L55/59微电路发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2018-03-15 | 实施时间： 2018-08-01收藏
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译：GB/T 35007-2018 Semiconductor integrated circuits—Measuring method of low voltage differential signaling circuitry适用范围：本标准规定了半导体集成电路 低电压差分信号（LVDS，low voltage differential signaling）电路（以下称为“器件”）静态参数、动态参数测试方法的基本原理。本标准适用于低电压差分信号电路静态参数、动态参数的测试。【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2018-03-15 | 实施时间： 2018-08-01收藏
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译：GB/T 35003-2018 Test methods for endurance and data retention of non-volatile memory适用范围：本标准规定了非易失性存储器耐久和数据保持试验的方法。本标准适用于电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)、快闪存储器(Flash)以及内嵌上述存储器的集成电路(以下简称器件)。【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2018-03-15 | 实施时间： 2018-08-01收藏
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译：GB/T 33842.5-2018 Information technology—Conformance testing methodology for biometric data interchange formats defined in GB/T 26237—Part 5:Face image data【国际标准分类号(ICS)】 ：35.040字符集和信息编码 【中国标准分类号(CCS)】 ：L70/84信息处理技术发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2018-03-15 | 实施时间： 2018-10-01收藏
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