无数据~
暂无内容
请重新选择[分类]、[状态]、[年份]
为您推荐您可能感兴趣的内容:
  • SJ/T 11505-2015 蓝宝石单晶抛光片规范 现行
    译:SJ/T 11505-2015 Ruby monocrystal polishing specification
    【国际标准分类号(ICS)】 :29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 :H83化合物半导体材料
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2015-04-30 | 实施时间: 2015-10-01
  • SJ/T 11527-2015 磁盘阵列通用规范 现行
    译:SJ/T 11527-2015
    【国际标准分类号(ICS)】 :35.240.01信息技术应用综合 【中国标准分类号(CCS)】 :L67计算机应用
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2015-04-30 | 实施时间: 2015-10-01
  • SJ/T 11378.6.1-2015 等离子体显示器件 第6-1部分:数字电视机用彩色等离子体显示器件详细规范 现行
    译:SJ/T 11378.6.1-2015 Plasma display device - Part 6-1: Detailed specification for color plasma display devices for digital television
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.120电子显示器件 【中国标准分类号(CCS)】 :L47其他
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2015-04-30 | 实施时间: 2015-10-01
  • SJ/T 11506-2015 集成电路用 铝腐蚀液 现行
    译:SJ/T 11506-2015 Aluminum Etchant for Integrated Circuits
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 :L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2015-04-30 | 实施时间: 2015-10-01
  • SJ/T 11310.2-2015 信息设备资源共享协同服务 第2部分:应用框架 现行
    译:SJ/T 11310.2-2015 Information Equipment Resource Sharing Collaborative Service Part 2: Application Framework
    【国际标准分类号(ICS)】 :35.200接口和互连设备 【中国标准分类号(CCS)】 :L65系统设备接口
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2015-04-30 | 实施时间: 2015-10-01
  • SJ/T 2214-2015 半导体光电二极管和光电晶体管测试方法 现行
    译:SJ/T 2214-2015 Testing methods for semiconductor photo-diodes and photo-transistors
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 :L54半导体光敏器件
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2015-04-30 | 实施时间: 2015-10-01
  • SJ/T 2354-2015 PIN、雪崩光电二极管测试方法 现行
    译:SJ/T 2354-2015 Pin and avalanche photodiode testing methods
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.180印制电路和印制电路板 【中国标准分类号(CCS)】 :L54半导体光敏器件
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2015-04-30 | 实施时间: 2015-10-01
  • SJ/T 11489-2015 低位错密度磷化铟抛光片蚀坑密度的测量方法 现行
    译:SJ/T 11489-2015 The measurement method for the low-dislocation density indium phosphide polished surface pit density
    【国际标准分类号(ICS)】 :29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 :H83化合物半导体材料
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2015-04-30 | 实施时间: 2015-10-01
  • SJ/T 11497-2015 砷化镓晶片热稳定性的试验方法 现行
    译:SJ/T 11497-2015 The test method for thermal stability of gallium arsenide wafers
    【国际标准分类号(ICS)】 :29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 :H83化合物半导体材料
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2015-04-30 | 实施时间: 2015-10-01
  • SJ/T 11523-2015 线阵列扬声器系统用音箱性能测试方法 现行
    译:SJ/T 11523-2015 The performance testing method for line array speaker systems using speakers
    【国际标准分类号(ICS)】 :33.160.01音频、视频和视听系统综合 【中国标准分类号(CCS)】 :M72音响、电声设备
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2015-04-30 | 实施时间: 2015-10-01