适用范围：本文件描述了超导条带光子探测器（SSPD）的性能参数之一暗计数率（DCR或RD）的测量，以及随偏置电流（Ib）和工作温度（T）变化关系的暗计数率的测试方法。界定了暗计数率相关的术语、定义、符号。 本文件适用于各种材料和结构的超导条带光子探测器的暗计数测量。