国际标准分类(ICS)
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现行
译：YS/T 986-2014 Specification for serial alphanumeric marking of the front surface of wafers适用范围：本标准定义了标记包括字母数字的几何尺寸和空间位置尤其适用于带参考面和带缺口的硅抛光片。 本标准不涉及制作标记的技术。【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H80/84半金属与半导体材料发布单位或类别：(CN-YS)行业标准-有色金属 | 发布时间： 2014-10-14 | 实施时间： 2015-04-01收藏 -
现行
译：YS/T 990.13-2014 Methods for chemical analysis of copper matte—Part 13:Determination of magnesium oxide content—Atomic absorption spectrmetry适用范围：YS/T 990的本部分规定了冰铜中氧化镁含量的测定方法。 本部分适用于冰铜中氧化镁含量的测定。测定范围为0.10%~6.00%。【国际标准分类号(ICS)】 ：77.120.30铜和铜合金 【中国标准分类号(CCS)】 ：H13重金属及其合金分析方法发布单位或类别：(CN-YS)行业标准-有色金属 | 发布时间： 2014-10-14 | 实施时间： 2015-04-01收藏
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现行
译：YS/T 990.12-2014 Methods for chemical analysis of copper matte—Part 12:Determination of aluminum oxide content—Spectrophotometry of chromazurol S适用范围：YS/T 990的本部分规定了冰铜中三氧化二铝含量的测定方法。 本部分适用于冰铜中三氧化二铝含量的测定。测定范围为0.20%～1.00%。【国际标准分类号(ICS)】 ：77.120.30铜和铜合金 【中国标准分类号(CCS)】 ：H13重金属及其合金分析方法发布单位或类别：(CN-YS)行业标准-有色金属 | 发布时间： 2014-10-14 | 实施时间： 2015-04-01收藏
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被代替
译：YS/T 987-2014 Test method for measuring carbon containing compound in chlorosilane—Determination of methyldichlorosilane适用范围：本标准规定了氯硅烷中碳杂质的测定方法，主要包括三氯氢硅中甲基二氯氢硅的测定和四氯化硅中甲基二氯氢硅的测定。 本标准适用于三氯氢硅中甲基二氯氢硅的测定和四氯化硅中甲基二氯氢硅的测定。三氯氢硅、四氯化硅中甲基二氯氢硅的检测范围均为0.000 01%～1.00%。【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040.30金属材料化学分析 【中国标准分类号(CCS)】 ：H17半金属及半导体材料分析方法发布单位或类别：(CN-YS)行业标准-有色金属 | 发布时间： 2014-10-14 | 实施时间： 2015-04-01收藏
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现行
译：YS/T 990.1-2014 Methods for chemical analysis of copper matte—Part 1:Determination of copper content—Iodine titration method适用范围：YS/T 990的本部分规定了冰铜中铜含量的测定方法。 本部分适用于冰铜中铜含量的测定。测定范围为20.00%~77.00%。【国际标准分类号(ICS)】 ：77.120.30铜和铜合金 【中国标准分类号(CCS)】 ：H13重金属及其合金分析方法发布单位或类别：(CN-YS)行业标准-有色金属 | 发布时间： 2014-10-14 | 实施时间： 2015-04-01收藏
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现行
译：YS/T 984-2014 Determination of boron and phosphorus concent in silicon powder by chemical analysis适用范围：本标准规定了硅粉中硼含量、磷含量的测定方法。 本标准适用于硅粉中硼含量、磷含量的测定。测定范围为硼 0.000 10％～0.010 00％，磷 0.000 50％～0.015 00％。【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040.30金属材料化学分析 【中国标准分类号(CCS)】 ：H17半金属及半导体材料分析方法发布单位或类别：(CN-YS)行业标准-有色金属 | 发布时间： 2014-10-14 | 实施时间： 2015-04-01收藏
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现行
译：YS/T 985-2014 Polished reclaimed silicon wafers适用范围：本标准规定了硅抛光回收片的要求、检验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存、质量证明书和订货单(或合同)内容。 本标准适用于用户提供的或来源于第三方的硅回收片(主要包括100 mm、125 mm、150 mm和200 mm单面或双面抛光硅片、未抛光硅片或外延硅片)经单面抛光制备的硅抛光片。产品主要用于机械、炉处理、颗粒和光刻中的监控片。另外使用方需注意硅回收片的热历史、体沾污和表面沉积物情况。【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H80/84半金属与半导体材料发布单位或类别：(CN-YS)行业标准-有色金属 | 发布时间： 2014-10-14 | 实施时间： 2015-04-01收藏
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现行
译：YS/T 990.10-2014 Methods for chemical analysis of copper matte—Part 10:Determination of silicon dioxide content—Molybdenum blue spectrophotometry and potassium fluosilicate titrimetric method适用范围：YS/T 990的本部分规定了冰铜中二氧化硅含量的测定方法。 本部分适用于冰铜中二氧化硅含量的测定方法1测定范围为0.50%~2.00%；方法2测定范围为2.00%~22.00%。【国际标准分类号(ICS)】 ：77.120.30铜和铜合金 【中国标准分类号(CCS)】 ：H13重金属及其合金分析方法发布单位或类别：(CN-YS)行业标准-有色金属 | 发布时间： 2014-10-14 | 实施时间： 2015-04-01收藏
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现行
译：YS/T 989-2014 Germanium grain适用范围：本标准规定了锗粒的要求、检验方法、检验规则及标志、包装、运输、贮存、质量证明书和订货单（或合同）内容。 本标准适用于以锗单晶或区熔锗锭为原料，经机械加工而制得的锗粒，主要为工艺品和健身护品提供镶件。【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H82元素半导体材料发布单位或类别：(CN-YS)行业标准-有色金属 | 发布时间： 2014-10-14 | 实施时间： 2015-04-01收藏
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现行
译：YS/T 990.11-2014 Methods for chemical analysis of copper matte—Part 11:Determination of nickel content—Atomic absorption spectrmetry适用范围：YS/T 990的本部分规定了冰铜中镍含量的测定方法。 本部分适用于冰铜中镍含量的测定。测定范围为0.05%~1.00%。【国际标准分类号(ICS)】 ：77.120.30铜和铜合金 【中国标准分类号(CCS)】 ：H13重金属及其合金分析方法发布单位或类别：(CN-YS)行业标准-有色金属 | 发布时间： 2014-10-14 | 实施时间： 2015-04-01收藏
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