19 试验
65 农业
无数据~
暂无内容
请重新选择[分类]、[状态]、[年份]
为您推荐您可能感兴趣的内容:
  • GB/T 25186-2010 表面化学分析 二次离子质谱 由离子注入参考物质确定相对灵敏度因子 现行
    译:GB/T 25186-2010 Surface chemical analysis—Secondary-ion mass spectrometry—Determination of relative sensitivity factors from ion-implanted reference materials
    适用范围:本标准指定了一种由离子注入参考物质确定二次离子质谱分析中相对灵敏度因子的方法。 本标准适用于基体化学成分单一的样品,其中注入物质的峰值原子浓度不超过1%。
    【国际标准分类号(ICS)】 :71.040.40化学分析 【中国标准分类号(CCS)】 :G04基础标准与通用方法
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2010-09-26 | 实施时间: 2011-08-01
  • GB/T 25182-2010 预应力孔道灌浆剂 现行
    译:GB/T 25182-2010 Grouting admixture for prestressed structure
    适用范围:本标准规定了预应力孔道灌浆剂的术语和定义、要求、试验方法、检验规则以及包装、出厂、贮存等。 本标准适用于预应力孔道灌浆剂。
    【国际标准分类号(ICS)】 :91.100.10水泥、石膏、石灰、砂浆 【中国标准分类号(CCS)】 :Q12水泥混合材与外加剂
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2010-09-26 | 实施时间: 2011-08-01
  • GB/T 25189-2010 微束分析 扫描电镜能谱仪定量分析参数的测定方法 现行
    译:GB/T 25189-2010 Microbeam analysis—Determination method for quantitative analysis parameters of SEM-EDS
    适用范围:本标准规定了扫描电镜能谱仪化学成分定量分析相关参数的测定方法。 本标准适用于对扫描电镜中影响定量分析性能的相关参数和能谱仪基本参数的测定,并以元素成分定量分析结果对仪器做出综合分析。
    【国际标准分类号(ICS)】 :71.040.99有关分析化学的其他标准 【中国标准分类号(CCS)】 :N53电化学、热化学、光学式分析仪器
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2010-09-26 | 实施时间: 2011-08-01
  • GB/T 25187-2010 表面化学分析 俄歇电子能谱 选择仪器性能参数的表述 现行
    译:GB/T 25187-2010 Surface chemical analysis—Auger electron spectroscopy—Description of selected instrumental performance parameters
    适用范围:本标准表述了如何描述一台俄歇电子能谱仪的特定性能。
    【国际标准分类号(ICS)】 :71.040.40化学分析 【中国标准分类号(CCS)】 :G04基础标准与通用方法
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2010-09-26 | 实施时间: 2011-08-01
  • GB/T 25183-2010 砌墙砖抗压强度试验用净浆材料 现行
    译:GB/T 25183-2010 Paste for compressive strength test of wall brick
    适用范围:本标准规定了砌墙砖抗压强度试验用净浆材料的定义、原料要求、一般要求、技术要求、试验方法、验收规则及包装、标志、运输、有效期、使用说明与贮存。 本标准适用于砌墙砖抗压强度试验用净浆材料。
    【国际标准分类号(ICS)】 :91.100.10水泥、石膏、石灰、砂浆 【中国标准分类号(CCS)】 :Q15墙体材料
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2010-09-26 | 实施时间: 2011-08-01
  • GB/T 25185-2010 表面化学分析 X射线光电子能谱 荷电控制和荷电校正方法的报告 现行
    译:GB/T 25185-2010 Surface chemical analysis—X-ray photoelectron spectroscopy—Reporting of methods used for charge control and charge correction
    适用范围:本标准以最少量的资料描述了用X射线光电子能谱测量绝缘样品内能级结合能,及将在报告其分析结果时所采用的荷电控制和荷电校正方法,也给出了在结合能测量过程中对于荷电控制和荷电校正有用的方法资料。
    【国际标准分类号(ICS)】 :71.040.40化学分析 【中国标准分类号(CCS)】 :G04基础标准与通用方法
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2010-09-26 | 实施时间: 2011-08-01
  • GB/T 25195.2-2010 起重机 图形符号 第2部分:流动式起重机 现行
    译:GB/T 25195.2-2010 Cranes—Graphical symbols—Part 2:Mobile cranes
    适用范围:GB/T 25195的本部分规定了操纵装置和其他显示装置的图形符号。 本部分适用于按GB/T 6974.2定义的流动式起重机。 注1:本部分与GB/T 25195.1中图形符号之间的分歧将在GB/T 25195.1的下一修订版中解决。 注2:特殊型式机械与设备用图形符号可在GB/T 25195的其他部分中查到。
    【国际标准分类号(ICS)】 :53.020.20起重机 【中国标准分类号(CCS)】 :J80起重机械
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2010-09-26 | 实施时间: 2011-02-01
  • GB/T 25195.1-2010 起重机 图形符号 第1部分:总则 现行
    译:GB/T 25195.1-2010 Cranes—Graphic symbols—Part 1:General
    【国际标准分类号(ICS)】 :53.020.20起重机 【中国标准分类号(CCS)】 :J80起重机械
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2010-09-26 | 实施时间: 2011-02-01
  • GB/T 25188-2010 硅晶片表面超薄氧化硅层厚度的测量X射线光电子能谱法 现行
    译:GB/T 25188-2010 Thickness measurements for ultrathin silicon oxide layers on silicon wafers X-ray photoelectron spectroscopy
    适用范围:本标准规定了一种准确测量硅晶片表面超薄氧化硅层厚度的方法,即X射线光电子能谱法(XPS)。本标准适用于热氧化法在硅晶片表面制备的超薄氧化硅层厚度的准确测量;通常,本标准适用的氧化硅层厚度不大于6 nm。
    【国际标准分类号(ICS)】 :71.040.40化学分析 【中国标准分类号(CCS)】 :G04基础标准与通用方法
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2010-09-26 | 实施时间: 2011-08-01
  • GB/T 25184-2010 X射线光电子能谱仪检定方法 现行
    译:GB/T 25184-2010 Verification method for X-ray photoelectron spectrometers
    适用范围:本标准规定了X射线光电子能谱仪的检定方法。本标准适用于使用非单色化Al或Mg X射线或单色化Al X射线,且带有溅射清洁用离子枪的X射线光电子能谱仪的检定。
    【国际标准分类号(ICS)】 :71.040.40化学分析 【中国标准分类号(CCS)】 :G04基础标准与通用方法
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2010-09-26 | 实施时间: 2011-08-01