适用范围：GB/T 24637的本部分给出了工件提取要素（组成或导出)的缺省定义，它们在GPS规范中都是被测要素（尺寸、几何或表面结构规范)。本部分定义了用于定义GPS特征的缺省几何要素。 本部分适用于产品几何技术规范和检验中工件的提取要素。

适用范围：本标准定义了工件几何要素的通用术语和要素类型，这些定义是基于GB/T 24637.1拓展的概念。 本标准给出了几何要素之间相互关系的“路线图”。 本标准适用于工业和软件制造商之间以一致的方式建立未来标准。

适用范围：GB/T 1800的本部分规定了孔、轴常用公差带代号的极限偏差数值，其数值是按GB/T 1800.1中的标准公差和基本偏差数值表计算得到的。它包括孔的上极限偏差ES和轴的上极限偏差es、孔的下极限偏差EI和轴的下极限偏差ei(见图1和图2)。 注： 在极限偏差数值表中，除了对称于零线的公差带代号JS和js外，上极限偏差ES或es的数值是在下极限偏差EI或ei的数值之上。 本部分建立了线性尺寸公差的ISO代号体系，其适用以下类型的尺寸要素： a)圆柱面； b)两相对平行面。 为简化，并且考虑具有圆截面的圆柱工件的重要性，只对这些要素明确指定。然而，为了更好理解，本部分所给公差和偏差同样适用于非圆形截面的工件。 特别是，术语“孔”或“轴”通常被用于表示圆柱面型要素（如孔或轴直径的公差标注），为简化，这些术语也被用于两相对平行面型（如键的厚度或槽宽的公差标注）。 有关术语、符号和代号体系的基础及更多信息见GB/T 1800.1。

适用范围：GB/T 16857的本部分规定了对配置多影像探测系统的坐标测量机进行验收检测和复检检测的方法。 本部分所描述的检测结果包含坐标测量机和探测系统的各种误差的影响，是对使用单一视觉探测系统坐标测量机的探测误差及长度测量误差检测的补充。 本部分适用于配备多个影像探头的坐标测量机。

适用范围：本标准规定了使用原子力显微术（AFM)测量纳米薄膜厚度的原理、测试条件、设备、样品、测试步骤和数据处理。本标准适用于表面均匀、平整的纳米范围厚度的无机材料薄膜。较厚的和一些有机薄膜的膜厚测定也可参照执行。

适用范围：本标准描述了光学共焦显微镜在宏观或微观三维表面形状测量中的计量特性，并规定了测量不确定度评定的横向和轴向测量结果的示值读取方法。本标准适用于工业测量光学共焦显微镜。

适用范围：本标准规定了数字摄影三坐标测量系统（以下简称工业摄影测量系统）的验收检测和复检检测。本标准适用于由工业测量相机、摄影测量标准尺、靶标、解算软件等组成数字掇影三坐标测量系统。

适用范围：本标准通过对ISO 142531要求的检测不确定度评估的说明，给出了GB/T 16857.2中规定的检测应用的指南。

适用范围：GB/T 33523的本部分规定了用区域法评定表面结构的术语、定义和参数。

适用范围：GB/T 34874的本部分规定了基于X射线计算机断层成像（CT）原理的三维尺寸测量机验收检测和复检检测方法。本部分规定的验收检测和复检检测方法适用于具备三维几何尺寸测量功能的工业CT测量机（以下简称CT测量机），不包含对CT测量机各单独部件如X射线源、CT探测器的检测，也不适用于材料分析和医学领域所用的CT测量设备。

适用范围：本标准规定了几何公差中的形状误差、方向误差、位置误差和跳动的检测条件、检测方法、误差评定方法、测量不确定度估算方法、检测与验证操作集（操作算子）制定方法及合格评定规则，并给出了几何误差的检测与验证方案及示例。本标准适用于工件几何误差的检测与验证。

适用范围：本标准规定了光滑工件尺寸（500 mm～10 000 mm）验收原则、验收极限、测量设备选用原则、测量设备的测量不确定度允许值和仲裁。本标准适用于产品加工、最终检验等过程，对公差等级为1级～18级（IT1～IT18）、公称尺寸500 mm～10 000 mm的光滑工件尺寸的检验。本标准也适用于对一般公差、延伸公差的尺寸检验。

适用范围：GB/T 33523的本部分规定了表面结构区域法接触（触针）式仪器的标称特性。本部分适用于表面结构区域法接触（触针）式仪器。

适用范围：GB/T 33523的本部分规定了区域法表面结构接触(触针)式仪器：--用作测量标准的实物量具的特性；--残余误差的评定方法；--校准、验收和周期检定的检测方法。本部分适用于用来校准或检定区域法表面结构接触(触针)式仪器的实物测量标准。

适用范围：GB/Z 26958的本部分规定了稳健轮廓滤波器的基本概念。

适用范围：GB/T 33523的本部分规定了主要用于表面结构测量方法的分类体系，定义了三类方法，描述了三类方法之间的关系，并对具体方法做了简要说明。本部分适用于对表面结构测量方法进行分类。

适用范围：本标准给出了使用连续变波长、变角度的光谱型椭圆偏振仪测量硅表面上二氧化硅薄层厚度的方法。 本标准适用于测试硅基底上厚度均匀、各向同性、10 nm~1 000 nm厚的二氧化硅薄层厚度，其他对测试波长处不透光的基底上单层介电薄膜样品厚度测量可以参考此方法。

适用范围：本标准规定了一种使用扫描隧道显微镜（STM）来分析气体配送系统部件表面粗糙度的方法。 本标准适用于测定Ra小于0.25 μm的不锈钢表面粗糙度的表征。 本标准不适用于不能产生隧道效应的厚氧化层钢铁。