适用范围：GB/T 15972的本部分规定了评估光纤在给定环境中温度变化性能的测量方法和试验程序。 本部分适用于确定A1类多模光纤和B类单模光纤在实际应用、贮存和（或）运输过程中可能发生的温度变化环境条件下的适应性能。

适用范围：GB/T 15972的本部分规定了透光率变化的监测方法和试验程序。 本部分适用于所有B类单模光纤和A类多模光纤成品光纤光缆的商业性检验。

适用范围：GB/T 15972的本部分规定了光纤长度和光纤伸长量（通常对光缆而言）的试验方法，确立了测量的统一试验程序和技术要求。 本部分适用于对A类多模光纤和B类单模光纤的测量和成品光纤光缆的商业性检验。

适用范围：GB/T 15972的本部分规定了测量未涂覆光纤翘曲或固有曲率半径的试验方法，确立了测量的统一试验程序和技术要求。 本部分适用于对A1﹑A2﹑A3类多模光纤和B类单模光纤的测量。

适用范围：GB/T 15972的本部分规定了确定光纤样品抗张强度值的试验方法，本部分的目的是要对光纤的机械特性——抗张强度建立一个统一的技术要求。 本部分适用于A1、A2、A3类多模光纤和B类单模光纤的测量。

适用范围：GB/T 15972的本部分规定了五种确定应力腐蚀敏感性参数的主要试验方法,确立了有关应力腐蚀敏感性参数测量的统一试验程序和技术要求。 本部分适用于A1、A2类多模光纤和B类单模光纤的测量。

适用范围：GB/T 15972的本部分规定了评估光纤和光缆在给定的伽玛辐照环境中性能的测量方法和试验程序。 本部分适用于测定成缆或未成缆A1类、A2类多模光纤和B类单模光纤因暴露在伽玛辐照下产生的辐照感应衰减值。 本部分不适用于光缆中非传光组分材料的测量，如果光缆材料暴露在辐照中会发生恶化，则需要进一步研究和寻找其他的测量方法。 注： 该试验对其他类型光纤的适用性在研究中。有关背景描述见附录A，详细背景信息见IEC/TR 62283。

适用范围：GB/T 15972的本部分规定了光纤数值孔径的试验方法，确立了对试验装置、注入条件、程序、计算方法和结果的统一要求。 本部分适用于对A1类、A2类多模光纤数值孔径的测量和成品光纤光缆的商业性检验。对A3类﹑A4类多模光纤数值孔径的测量也可参照使用。

适用范围：GB/T 15972的本部分规定了光纤特性测量方法和试验程序的通用要求，包括测量和试验分类、测量和试验的标准大气条件、校准准则、试样制备等，还规定了光纤分类、光纤材料和结构、识别标志和包装等要求。 本部分适用于对通信设备和使用类似技术装置中用的A类多模光纤和B类单模光纤的检验。

适用范围：GB/T 15972的本部分规定了多模光纤带宽的试验方法，确立了对试验装置、注入条件、程序、计算方法和结果的统一要求。 本部分适用于A1类多模光纤带宽的测量和成品光纤光缆的商业性检验。本部分不适用于B类单模光纤带宽的测量。