适用范围：本标准规定了贵金属及其合金复合带材的要求、试验方法、检验规则和标志、包装、运输、贮存等。 本标准适用于电器、仪表、电子元器件等领域用的以贵金属及其合金为复层材料，以铜或铜合金为基体材料的复合带材。

适用范围： GB/T 15972的本部分规定了光纤特性测量方法和试验程序的通用要求，包括测量和试验分类、测量和试验的标准大气条件、校准准则、试样制备等，还规定了光纤分类、光纤材料和结构、识别标志和包装等要求。 本部分适用于对通信设备和使用类似技术装置中用的A类多模光纤和B类单模光纤的检验。

适用范围：GB/T 15972的本部分规定了测量光纤预涂覆层几何参数的试验方法，确立了测量的统一试验程序和技术要求。 本部分适用于对A类多模光纤和B类单模光纤的测量和成品光纤光缆的商业性检验。

适用范围：本方法规定了用直接测量法测定贵金属及其合金板、带、管、丝、线、棒材和复合材料几何尺寸的方法。 本方法适用于贵金属及其合金板、带、管、丝、线、棒材和复合材料几何尺寸的测量。测量范围：软金属（纯金和纯银）丝材、线材和棒材直径大于0.1 mm，硬金属丝材、线材和棒材直径大于0.03 mm；软金属（纯金和纯银）带材和板材厚度大于0.1 mm，硬金属带材和板材厚度大于0.05 mm；管材孔径大于3.0 mm。

适用范围：GB/T 15972的本部分规定了确定光纤样品抗张强度值的试验方法，本部分的目的是要对光纤的机械特性——抗张强度建立一个统一的技术要求。 本部分适用于A1、A2、A3类多模光纤和B类单模光纤的测量。

适用范围：GB/T 15972的本部分规定了沿光纤纵轴向定量地机械剥去保护涂覆层所需的力的试验方法，确立了测量的统一试验程序和技术要求。 本部分适用于A1类、A2类、A3类和B类具有标称外直径为250 μm~900 μm范围内的聚合物作外被覆层的光纤的测量。 本部分不适用于实际直径230 μm~930 μm范围之外的聚合物作外被覆层的光纤。

适用范围：GB/T 15972的本部分规定了光纤长度和光纤伸长量（通常对光缆而言）的试验方法，确立了测量的统一试验程序和技术要求。 本部分适用于对A类多模光纤和B类单模光纤的测量和成品光纤光缆的商业性检验。

适用范围：GB/T 15972的本部分规定了测量未涂覆光纤翘曲或固有曲率半径的试验方法，确立了测量的统一试验程序和技术要求。 本部分适用于对A1﹑A2﹑A3类多模光纤和B类单模光纤的测量。

适用范围：GB/T 15972的本部分规定了多模光纤带宽的试验方法，确立了对试验装置、注入条件、程序、计算方法和结果的统一要求。 本部分适用于A1类多模光纤带宽的测量和成品光纤光缆的商业性检验。本部分不适用于B类单模光纤带宽的测量。

适用范围：本标准规定了贵金属及其合金电触点材料（静态）接触电阻的测量方法。 本标准适用于贵金属及其合金电触点材料接触电阻的测量。其他金属及合金电触点材料也可参照使用。