国际标准分类(ICS)
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现行译:GB/T 29849-2013 Test method for measuring surface metallic contamination of silicon materials used for photovoltaic applications by inductively coupled plasma mass spectrometry适用范围:本标准规定了利用电感耦合等离子体质谱仪(ICPMS)测定光伏电池用硅材料表面痕量金属杂质含量的方法。 本标准适用于光伏电池用硅材料表面痕量金属杂质钠、镁、铝、钾、钙、钛、铬、铁、镍、铜、锌、钼含量的测定。各元素的测量范围见表1。【国际标准分类号(ICS)】 :29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 :H82元素半导体材料发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2013-11-12 | 实施时间: 2014-04-15收藏
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现行译:GB/T 29851-2013 Test method for measuring boron and aluminium in silicon materials used for photovoltaic applications by secondary ion mass spectrometry适用范围:本标准规定了用二次离子质谱仪(SIMS)测定光伏电池用硅材料中硼和铝含量的方法。 本标准适用于光伏电池用硅材料中受主杂质硼和铝含量的定量分析,其中硼和铝的浓度均大于1×1013atoms/cm3。其他受主杂质的测量也可参照本标准。【国际标准分类号(ICS)】 :29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 :H82元素半导体材料发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2013-11-12 | 实施时间: 2014-04-15收藏
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现行译:GB/T 29852-2013 Test method for measuring phosphorus,arsenic and antimony in silicon materials used for photovoltaic applications by secondary ion mass spectrometry适用范围:本标准规定了用二次离子质谱仪(SIMS)测定光伏电池用硅材料中磷、砷和锑含量的方法。 本标准适用于光伏电池用硅材料中施主杂质磷、砷和锑含量的定量分析,其中磷、砷和锑的浓度均大于1×1014atoms/cm3。【国际标准分类号(ICS)】 :29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 :H82元素半导体材料发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2013-11-12 | 实施时间: 2014-04-15收藏
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现行译:GB/T 29845-2013 Guide for final assembly,packaging,transportation, unpacking,and relocation of semiconductor manufacturing equipment适用范围:本标准给出了半导体制造设备(SME)在供应商工厂的最终装配(总装)、包装、运输以及在客户洁净室生产区的拆包和安放等特定活动指南。 本标准适用于半导体制造设备、独立的组件和部件在供应商工厂的最终装配(总装)、包装和运输以及从客户装货码头/接收区到高纯和超高纯应用的洁净室生产区的转移过程。 本标准不包含与环境、健康和安全(EHS)相关的特殊要求,也不适用于与晶片粒子或晶片质量(如离子污染度)相关的加工过程规范。【国际标准分类号(ICS)】 :31.550电子产品生产设备 【中国标准分类号(CCS)】 :L95/99电子工业生产设备发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2013-11-12 | 实施时间: 2014-04-15收藏
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现行译:GB/T 29847-2013 Test methods for copper foil used for printed boards适用范围:本标准规定了印制板用铜箔外观、尺寸、物理性能、工艺性能及其他性能的试验方法。 本标准适用于刚性及挠性印制板用铜箔。【国际标准分类号(ICS)】 :31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 :L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2013-11-12 | 实施时间: 2014-04-15收藏
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现行译:GB/T 29843-2013 General specification for DC electronic load适用范围:本标准规定了直流电子负载的术语和定义、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存等。 本标准适用于输入电压小于或等于600 V(DC)的直流电子负载。【国际标准分类号(ICS)】 :17.220电学、磁学、电和磁的测量 【中国标准分类号(CCS)】 :L85/89电子测量与仪器发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2013-11-12 | 实施时间: 2014-05-01收藏
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现行译:GB/T 29846-2013 Photoimageable plating and etching resist paste of printed circuit board适用范围:本标准规定了印制板用光成像耐电镀抗蚀剂的术语和定义、性能、试验方法、检验规则和包装。 本标准适用于印制板制造用的光成像耐电镀抗蚀剂、光成像抗电镀剂、光成像抗酸性蚀刻剂和光成像抗碱性蚀刻剂。【国际标准分类号(ICS)】 :31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 :L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2013-11-12 | 实施时间: 2014-04-15收藏
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现行译:GB/T 29842-2013 Temporal systems for satellite navigation and positioning适用范围:本标准规定了与卫星导航定位应用有关的时间系统的术语和定义、标记方法,以及时间系统的建立、系统时间换算方法和应用中的主要技术方法。 本标准适用于利用卫星导航定位系统进行与时间相关的导航、定位、定时、时间同步等领域的科研、教学及应用。【国际标准分类号(ICS)】 :33.200遥控、遥测 【中国标准分类号(CCS)】 :M50/59雷达、导航、遥控、遥测、天线发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2013-11-12 | 实施时间: 2014-05-01收藏
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现行译:GB/T 29850-2013 Test method for measuring compensation degree of silicon materials used for photovoltaic applications适用范围:本标准规定了光伏电池用硅材料补偿度的测量和分析方法。 本标准适用于光伏电池用非掺杂硅材料补偿度的测量和分析。【国际标准分类号(ICS)】 :29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 :H82元素半导体材料发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2013-11-12 | 实施时间: 2014-04-15收藏
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被代替译:GB/T 29848-2013 Ethylene-vinyl acetate copolymer(EVA)film for encapsulant solar module适用范围:本标准规定了光伏组件封装用乙烯-醋酸乙烯酯共聚物(EVA)胶膜(以下简称EVA胶膜)的术语和定义、要求、试验方法、检验规则、包装、标志、运输和贮存。 本标准适用于以乙烯-醋酸乙烯酯共聚物(EVA)为主要原料,添加各种助剂,经熔融加工成型,用于地面光伏组件封装的胶膜。【国际标准分类号(ICS)】 :31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 :L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2013-11-12 | 实施时间: 2014-04-15收藏