国际标准分类(ICS)
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25 机械制造
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31 电子学
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现行译:GB/T 31230.3-2014 Industrial ethernet fieldbus EtherCAT—Part 3:Data Link Layer service definition适用范围:1.1 本部分与IEC标准的关系 GB/T 31230的本部分依赖于IEC 61158系列文件类型12中相对应的部分。【国际标准分类号(ICS)】 :25.040工业自动化系统 【中国标准分类号(CCS)】 :N10/19工业自动化仪表与控制装置发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2014-09-30 | 实施时间: 2015-04-01收藏
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现行译:GB/T 31228-2014 Instrumented nanoindentation test—Terminology适用范围:本标准界定了仪器化纳米压入试验在基础通用、仪器特性、力学测量、参数识别、试验样品、测试设定方面所涉及的常用术语及其定义。 本标准主要适用于仪器化纳米压入试验,也可拓宽至仪器化压入试验。【国际标准分类号(ICS)】 :19.060机械试验 【中国标准分类号(CCS)】 :A42物理学与力学发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2014-09-30 | 实施时间: 2015-04-15收藏
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现行译:GB/T 31230.4-2014 Industrial ethernet fieldbus EtherCAT—Part 4:Data Link Layer protocol specification适用范围:本部分与IEC标准的关系 GB/T 31230的本部分依赖于IEC 61158系列文件类型12中相对应的部分。【国际标准分类号(ICS)】 :25.040工业自动化系统 【中国标准分类号(CCS)】 :N10/19工业自动化仪表与控制装置发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2014-09-30 | 实施时间: 2015-04-01收藏
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现行译:GB/T 31230.2-2014 Industrial ethernet fieldbus EtherCAT—Part 2:Physical Layer service and protocol specification【国际标准分类号(ICS)】 :25.040工业自动化系统 【中国标准分类号(CCS)】 :N10/19工业自动化仪表与控制装置发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2014-09-30 | 实施时间: 2015-04-01收藏
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现行译:GB/T 31225-2014 Test method for the thickness of silicon oxide on Si substrate by ellipsometer适用范围:本标准给出了使用连续变波长、变角度的光谱型椭圆偏振仪测量硅表面上二氧化硅薄层厚度的方法。 本标准适用于测试硅基底上厚度均匀、各向同性、10 nm~1 000 nm厚的二氧化硅薄层厚度,其他对测试波长处不透光的基底上单层介电薄膜样品厚度测量可以参考此方法。【国际标准分类号(ICS)】 :17.040.01长度和角度测量综合 【中国标准分类号(CCS)】 :J04基础标准与通用方法发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2014-09-30 | 实施时间: 2015-04-15收藏