国际标准分类(ICS)
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译：LY/T 2244.4-2014 Guidelines for Evaluation of the Efficiency of Nature Reserves: Part 4: Wildlife Protection适用范围：本标准适用于自然保护区野生动物保护成效的评估。【国际标准分类号(ICS)】 ：65.020.40绿化和造林 【中国标准分类号(CCS)】 ：B65森林资源保护发布单位或类别：(CN-LY)行业标准-林业 | 发布时间： 2015-10-19 | 实施时间： 2016-01-01收藏 -
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译：SJ/T 11539-2015 Contact Image Sensor Generic Specification【国际标准分类号(ICS)】 ：31.220.99其他机电零部件 【中国标准分类号(CCS)】 ：L63计算机外围设备发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-10-10 | 实施时间： 2016-04-01收藏
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译：SJ/T 11436-2015 Fan coil unit air conditioning energy monitoring system technical specifications【国际标准分类号(ICS)】 ：91.140.30通风和空调 【中国标准分类号(CCS)】 ：P48通风、空调工程发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-10-10 | 实施时间： 2016-04-01收藏
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译：SJ/T 2658.6-2015 Semiconductor Infrared Emitter Diode Measurement Methods - Part 6: Radiated Power【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-10-10 | 实施时间： 2016-04-01收藏
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译：CY/T 136-2015适用范围：本标准适用于版权相关的信息化系统建设、运行和维护。【国际标准分类号(ICS)】 ：03.140专利、知识产权 【中国标准分类号(CCS)】 ：A14图书馆、档案、文献与情报工作发布单位或类别：(CN-CY)行业标准-新闻出版 | 发布时间： 2015-06-29 | 实施时间： 2015-06-29收藏
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译：SJ/T 11552-2015 Using Brewster angle to measure the content of silicon interstitial oxygen using P-polarized radiation and infrared absorption spectroscopy【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H82元素半导体材料发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-10-10 | 实施时间： 2016-04-01收藏
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译：CY/T 135-2015适用范围：本标准适用于版权相关的信息化系统建设、运行和维护。【国际标准分类号(ICS)】 ：03.140专利、知识产权 【中国标准分类号(CCS)】 ：A14图书馆、档案、文献与情报工作发布单位或类别：(CN-CY)行业标准-新闻出版 | 发布时间： 2015-06-29 | 实施时间： 2015-06-29收藏
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译：SJ/T 2658.9-2015 Measurements of Semiconductor Infrared Emitting Diodes - Part 9: Spatial Distribution of Radiation Intensity and Half-Power Beam Angle【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-10-10 | 实施时间： 2016-04-01收藏
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译：SJ/T 11555-2015 Determining the content of metal elements in nitric acid using inductively coupled plasma mass spectrometry【国际标准分类号(ICS)】 ：31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-10-10 | 实施时间： 2016-04-01收藏
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译：SJ/T 2658.13-2015 Measurements of Semiconductor Infrared Emitting Diodes - Part 13: Radiated Power Temperature Coefficient【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-10-10 | 实施时间： 2016-04-01收藏
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