适用范围：本文件规定了采用电子背散射衍射（electron backscatter diffraction，EBSD）法测量钢中奥氏体体积分数和形态的方法、设备、取样和试样制备、测量步骤、数据处理和检验报告。 本文件适用于分析含有晶粒尺寸50 nm以上奥氏体的中、低碳钢及中、低碳合金钢。 本文件不适用于分析晶粒尺寸小于50 nm的奥氏体，奥氏体晶粒尺寸小于50 nm会严重影响定量分析结果的准确性。 注： 晶粒尺寸下限是可观察到的最小奥氏体晶粒尺寸。晶粒尺寸下限取决于设备条件和操作参数。

适用范围：本文件规定了一种通过测定溅射速率校准材料溅射深度的方法，即在一定溅射条件下测定一种具有单层或多层膜参考物质的溅射速率，用作相同材料膜层的深度校准。当使用俄歇电子能谱(AES)、X射线光电子能谱(XPS)和二次离子质谱(SIMS)进行深度分析时，这种方法对于厚度在20 nm~200 nm之间的膜层具有5%~10%的准确度。溅射速率是由参考物质相关界面间的膜层厚度和溅射时间决定。使用已知的溅射速率并结合溅射时间，可以得到被测样品的膜层厚度。测得的离子溅射速率可用于预测各种其他材料的离子溅射速率，从而可以通过溅射产额和原子密度的表值估算出这些材料的深度尺度和溅射时间。

适用范围：本文件规定了抗缪勒管激素测定试剂盒(化学发光免疫分析法)(以下简称AMH试剂盒)的技术要求、试验方法、标签和使用说明书、包装、运输和贮存。 本文件适用于以化学发光免疫分析为原理测定抗缪勒管激素的试剂盒。

适用范围：本文件描述了多壁碳纳米管（MWCNTs）介观形状因子的表征方法。所采用的表征技术包括扫描电子显微术（SEM）、透射电子显微术（TEM）、黏度法和光散射法等。 本文件还包括用于界定静态弯曲持续长度（SBPL）表征的附加条款，给出了用于评价SBPL的测量方法，其长度通常处于几十纳米至几百微米之间。 本文件借鉴高分子物理中的概念和数学表达式来定义MWCNTs的介观形状因子。

适用范围：本文件规定了分析仪器的术语和定义、仪器分类与命名、要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输和贮存。本文件适用于各种类型分析仪器。本文件也适用于与仪器配用或形成独立产品的样品处理、制备、信号处理传输和辅助分析的装置等。

适用范围：本文件规定了工业循环冷却水中钙、镁含量及锅炉水系统或循环水系统的水垢中钙、镁含量的测定方法--原子吸收光谱法。本文件适用于工业循环冷却水中钙含量为0.5 mg/L~75 mg/L、镁含量为0.1 mg/L~50 mg/L的测定,水垢中钙含量≥0.005%、镁含量≥0.005%的测定。本文件也适用于其他各种工业用水、原水和用水系统的水垢中钙、镁含量的测定，以及工业循环冷却水用磷锌预膜液中钙含量的测定。

适用范围：本文件规定了工业循环冷却水中铜、铁、锌含量及锅炉水系统或循环水系统的水垢中铜、铁、锌含量的测定方法--原子吸收光谱法。本文件适用于工业循环冷却水中铜含量为0.1 mg/L~20 mg/L、铁含量为0.1 mg/L~20 mg/L、锌含量为0.1 mg/L~20 mg/L的测定，水垢中铜含量≥0.005%、铁含量≥0.01%、锌含量≥0.005%的测定。本文件也适用于锅炉用水中铜、铁、锌的测定及其他工业用水、原水和用水系统的水垢中铜、铁、锌含量的测定，以及工业循环冷却水用磷锌预膜液中锌含量的测定。

适用范围：本文件规定了化学试剂一水合硫酸锰（硫酸锰）的技术要求、试验、检验规则和包装及标志。 本文件适用于化学试剂一水合硫酸锰（硫酸锰）的检验。

适用范围：本文件规定了用密度瓶法、韦氏天平法及振动式液体密度仪法测定液体化学试剂密度的通用方法。 本文件适用于液体化学试剂密度的测定。

适用范围：本文件规定了化学试剂二水合氯化铜（氯化铜）的技术要求、试验、检验规则和包装及标志。 本文件适用于化学试剂二水合氯化铜（氯化铜）的检验。

适用范围：本文件界定了在AEM实践中所用的术语。包含一般概念和特定概念的术语，按照系统顺序中各自的层次分类。 本文件适用于所有和 AEM 实践相关的标准化文件。此外，本文件的某些部分适用于相关领域（如 TEM, STEM, SEM, EPMA, EDX)通用术语的定义。

适用范围：本文件规定了用阿贝折射仪法或自动数字显示折射仪法测定液体有机试剂折光率的通用方法。 本文件适用于浅色、透明、折光率范围在1.300 0~1.700 0的液体有机试剂的测定。本文件自动数字显示折射仪法还适用于深色、半透明、不透明的液体有机试剂的测定。

适用范围：本文件规定了化学试剂二氯甲烷的技术要求、试验、检验规则和包装及标志。 本文件适用于化学试剂二氯甲烷的检验。