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被代替
译：GB/T 17506-1998 The method of electron probe microanalysis as corrosive layer on ferrous metals of ship
【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备
【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1998-10-16 | 实施时间： 1999-07-01
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被代替
译：GB/T 17507-1998 General specification of thin biological standards for X-Ray EDS microanalysis in electron microscope
【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备
【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1998-10-16 | 实施时间： 1999-07-01
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被代替
译：GB/T 17363-1998 Method of quantitative electron probe microanalysis on gold products
【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备
【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1998-05-08 | 实施时间： 1998-12-01
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被代替
译：GB/T 17359-1998 General specification of X-ray EDS Quantitative analysis for EPMA and SEM
【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备
【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1998-05-08 | 实施时间： 1998-12-01
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被代替
译：GB/T 17361-1998 Identification method of authigenic clay mineral in sedimentary rock by SEM and XEDS
【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备
【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1998-05-08 | 实施时间： 1998-12-01
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被代替
译：GB/T 17362-1998 Nondestructive method of X-ray EDS analysis with SEM for gold jewelry
【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备
【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1998-05-08 | 实施时间： 1998-12-01
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现行
译：GB/T 17365-1998 Method of preparation for samples of metal and alloy in electron probe microanalysis
【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备
【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1998-05-08 | 实施时间： 1998-12-01
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被代替
译：GB/T 17364-1998 Non-damage quantitative analysis of gold content in gold products
【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备
【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1998-05-08 | 实施时间： 1998-12-01
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现行
译：GB/T 17366-1998 Methods of mineral and rock specimen preparation for EPMA
【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备
【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1998-05-08 | 实施时间： 1998-12-01
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被代替
译：GB/T 17360-1998 Method of quantitative electron probe microanalysis on low contents of Si and Mn in steels
【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备
【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1998-05-08 | 实施时间： 1998-12-01
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被代替
译：GB/T 17117-1997 Prism binoculars
【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备
【中国标准分类号(CCS)】 ：N31望远镜、大地测量与航测仪器
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1997-12-01 | 实施时间： 1998-05-01
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被代替
译：GB/T 17118-1997 Galilean binoculars
【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备
【中国标准分类号(CCS)】 ：N31望远镜、大地测量与航测仪器
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1997-12-01 | 实施时间： 1998-05-01
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废止
译：JB/T 8634-1997 Wet tropical type electronic control equipment equipped with electronic components
【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备
【中国标准分类号(CCS)】 ：K62电气传动控制装置
发布单位或类别：(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间： 1997-09-05 | 实施时间： 1998-01-01
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废止
译：GB 7667-1996 The dose of X-rays leakage from electron microscope
【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备
【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1996-08-13 | 实施时间： 1996-12-01
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被代替
译：GB/T 2609-1996 Microscopes—Objectives
【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备
【中国标准分类号(CCS)】 ：N32放大镜与显微镜
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1996-08-13 | 实施时间： 1996-12-01
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被代替
译：GB/T 9246-1996 Microscopes—Oculars (eyepieces)
【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备
【中国标准分类号(CCS)】 ：N32放大镜与显微镜
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1996-08-13 | 实施时间： 1996-12-01
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被代替
译：GB/T 9247-1996 Microscopes—Condensers
【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备
【中国标准分类号(CCS)】 ：N32放大镜与显微镜
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1996-08-13 | 实施时间： 1996-12-01
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现行
译：JB/T 8379-1996
【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备
【中国标准分类号(CCS)】 ：N30/39光学仪器
发布单位或类别：(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间： 1996-04-16 | 实施时间： 1996-10-01
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现行
译：JB/T 8380-1996 Polarizing Microscope Reference System
【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备
【中国标准分类号(CCS)】 ：N32放大镜与显微镜
发布单位或类别：(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间： 1996-04-16 | 实施时间： 1996-10-01
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现行
译：JB/T 7794-1995 Polarizing microscope
【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备
【中国标准分类号(CCS)】 ：N32放大镜与显微镜
发布单位或类别：(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间： 1995-11-10 | 实施时间： 1996-07-01
被代替
被代替
被代替
被代替
被代替
被代替
现行
被代替
现行
被代替
被代替
被代替
废止
废止
被代替
被代替
被代替
现行
现行
现行