适用范围：本标准规定了用于显微镜的可互换光谱滤光片直径的推荐尺寸以及滤光片的材料缺陷和工序疵病。

适用范围：本标准描述了用于显微术的浸液的特性，按其应用范围对浸液分类，并规定了每种型式的要求和试验方法。 本标准规定了浸液的标识方法以及容器标签上的信息和技术数据单应提供的信息。

适用范围：本部分规定了湿热、低内压综合试验的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。 本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。

适用范围：本部分规定了低压与大气温度、高温综合试验的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。 本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。

适用范围：本部分规定了含二氧化硫、硫化氢的湿空气的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。 本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。

适用范围：本部分规定了污染、太阳辐射综合试验的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。 本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。

适用范围：本部分规定了温度周期与正弦振动、随机振动综合试验的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。 本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。

适用范围：本标准规定了光学纤维传像元件的术语和定义、试验方法。 本标准适用于像增强器、变像管、像增强型CCD等光电器件中使用的光学纤维传像元件。

适用范围：本部分规定了宽带随机振动（数字控制）综合试验的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验 标记。 本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。 本试验目的是研究试样的光学、热学、化学和电气等性能受到宽带随机振动（数字控制）与高温、低温影响时的变化程度。

适用范围：本部分规定了砂尘试验的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。 本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。 本试验的目的是研究试样的光学、热学、机械学、化学和电学等特性受到砂尘影响的变化程度，特别是研究运动部件（如滑动面、轴承、接触器、控制装置、齿轮）的故障 或不能允许的表面磨损。本试验不用来确定对粗粒砂尘的耐磨性。

适用范围：本部分规定了机械作用力试验的试验条件、条件试验及环境试验标记。 本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。 本试验目的是研究试样的光学、热学、力学、化学及电学等特性受到机械作用力影响的变化程度。

适用范围：本部分规定了长霉试验用的菌种，试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。 本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。 本部分不适用于常规生产检查。 本试验目的是研究长霉对试样的光学、化学、机械和电气的工作性能的影响程度，以及估价霉菌代谢产物（比如酶或酸性物质）导致对零件的腐蚀程度或引起线路板的短路等严重程度。

适用范围：本部分规定了低温、高温、湿热试验的试验条件、试验程序及环境试验标记。 本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。 本试验目的是研究试样的光学、热学、化学及电学等特性受到温度和湿度影响的变化程度。

适用范围：本部分规定了低温与低气压综合试验的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。 本部分适用于在高山地区或飞机仪表盘上或导弹上使用的光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。 本试验目的是研究试样的光学、热学、化学和电学等特性受到低温与低气压影响的变化程度，包括测定水的冷凝和冻结对仪器或零部件的附加影响

适用范围：本部分规定了滴水、淋雨试验的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。 本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。 本试验目的是研究试样的光学、热学、机械学、化学和电学特性受到滴水、淋雨影响的变化程度。

适用范围：本部分规定了高压、低压、浸没试验的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。 本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。 本试验目的为研究试样的光学、热学、力学、化学和电学等特性受到环境气体高压、低压或水浸没影响的变化程度。

适用范围：本部分规定了污染试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。 本部分中所指的“污染”的含义是腐蚀性化学物质1）(以下称试剂）同光学仪器的接触。 本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。

适用范围：本部分规定了太阳辐射试验的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。 本部分适用于露天操作、储存或在相对较低气压中存放的光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。 本试验目的是研究试样的光学、热学、力学、化学和电学等特性受到太阳辐射影响的变化程度。

适用范围：本部分规定了弹跳或恒加速度与高温或低温综合试验的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验 标记。

适用范围：本部分规定了冲击、碰撞或自由跌落与高温、低温综合试验的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。 本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。 本试验目的是研究试样的光学、热学、力学、化学和电学性能受到冲击、碰撞或自由跌落与高温、低温影响变化的程度。